Персона:
Московская, Юлия Марковна

Profile Picture
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Статус
Фамилия
Московская
Имя
Юлия Марковна
Имя

Фильтры

20191
1
1
Сброс фильтров

Настройки

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 1 из 1
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Nonparametric Statistical Analysis of Radiation Hardness Threshold Variation in CMOS IC Wafer Lots Series with the Aim of Process Monitoring
    (2019) Moskovskaya, Y. M.; Sogojan, A. V.; Nikiforov, A. Y.; Bogdanov, Y. I.; Bogdanova, N. A.; Fastovets, D. V.; Moskovskaya, Y. M.; Sogoyan, A. V.; Nikiforov, A. Y.; Московская, Юлия Марковна; Согоян, Армен Вагоевич; Никифоров, Александр Юрьевич
    © 2019 IEEE.Nonparametric statistical criteria usage has been considered for estimating radiation hardness threshold variation of CMOS IC wafer lots series. It gives one the possibility to assess every newly manufactured IC lot by a small sample size to determine whether test sample and the whole lot statistically belong to the previously tested general reference group of samples or not. The approach allows us to minimize the overirradiation factor and obtain a statistically reliable radiation test result even for small-size test samples.