2023, Колосова, А. С., Каменева, А. С. , Чуков, Г. В. , Никифоров, А. Ю. , Каменева, Анна Сергеевна, Чуков, Георгий Викторович, Никифоров, Александр Юрьевич, Колосова, Анна Сергеевна

Рассмотрены основные алгоритмы и методы машинного обучения и проведен анализ возможности их применения для оценки качества как основного элемента обеспечения доверенности выпускаемой электронной компонентной базы (ЭКБ) и радиоэлектронной аппаратуры (РЭА). Приводятся примеры успешного применения данных алгоритмов для улучшения таких показателей качества ЭКБ как надежность, стойкость к внешним воздействующим факторам и др. При проведении исследований стойкости ЭКБ к внешним воздействующим факторам, необходимой является процедура идентификации образцов ЭКБ методом рентгеноскопии, для выявления возможной неоднородности в конструкции образцов, принадлежащих к одной партии. Неоднородность партии может влиять на показатели надежности и стойкости к внешним воздействующим факторам, в связи с чем актуальной задачей является построение надежной системы идентификации. В статье предложен подход к решению задачи поиска неоднородности партии при идентификации образцов ЭКБ с помощью рентгеноскопии, в том числе как метода обеспечения доверенности, с помощью сверточной нейронной сети и алгоритмов кластеризации.

2019, Moskovskaya, Y. M., Sogojan, A. V., Nikiforov, A. Y., Bogdanov, Y. I., Bogdanova, N. A., Fastovets, D. V., Moskovskaya, Y. M., Sogoyan, A. V., Nikiforov, A. Y., Московская, Юлия Марковна, Согоян, Армен Вагоевич, Никифоров, Александр Юрьевич

© 2019 IEEE.Nonparametric statistical criteria usage has been considered for estimating radiation hardness threshold variation of CMOS IC wafer lots series. It gives one the possibility to assess every newly manufactured IC lot by a small sample size to determine whether test sample and the whole lot statistically belong to the previously tested general reference group of samples or not. The approach allows us to minimize the overirradiation factor and obtain a statistically reliable radiation test result even for small-size test samples.

2019, Akhmetov, A. O., Sorokoumov, G. S., Smolin, A. A., Bobrovsky, D. V., Boychenko, D. V., Nikiforov, A. Y., Сорокоумов, Георгий Сергеевич, Бобровский, Дмитрий Владимирович, Бойченко, Дмитрий Владимирович, Никифоров, Александр Юрьевич

© 2019 IEEE.The paper presents single event upset (SEU) experimental results in Spartan-6 FPGA due to direct and indirect proton ionization. High energy proton beam and aluminum foils were used to decrease proton energy down to 1.. 20 MeV to observe proton direct ionization upsets.

2021, Nikiforov, A. Y., Gorbunov, M. S., Smolin, A. A., Davydov, G. G., Boychenko, D. V., Никифоров, Александр Юрьевич, Давыдов, Георгий Георгиевич, Бойченко, Дмитрий Владимирович

© 2021 IEEE.We provide a brief evolution trends overview of the modern microelectronic devices and its radiation behaviour, focusing on new structures and materials effects due to Total Ionizing Dose (TID) and Single Event effects (SEE) in CMOS elements. Evolution of test facilities driven by these changes in radiation behaviour of modern devices is also considered.

2024, Никифоров, А. Ю., Усачев, Н. А., Ермаков, А В., Никифоров, Александр Юрьевич, Усачев, Николай Александрович, Ермаков, Александр Викторович

В период с 12 по 14 августа в КВЦ «Патриот» прошел Международный военно-технический Форум «АРМИЯ-2024». Согласно официальным данным, в работе Форума приняли участие делегации оборонных ведомств более 80 иностранных государств, а также 110 официальных военных делегаций и предприятий иностранных государств. Форум включал в себя научно-деловую программу, протокольные и культурно-художественные мероприятия. Организатором Форума традиционно выступило Минобороны России, генеральными партнерами выступили: Концерн ВКО «Алмаз-Антей», Холдинг «Вертолеты России», АО «Технодинамика». Открыли работу Форума в своем видеообращении Президент России В.В. Путин, и выступления Министра обороны России А.Р. Белоусова, Министра промышленности и торговли А.А. Алиханова, Министра обороны Республики Беларусь В.Г. Хренина. Более 1,5 тыс. отечественных и зарубежных предприятий и организаций представили свыше 28 тыс. образцов продукции военного и двойного назначения в виде натурных образцов, макетов и рекламно-информационных материалов. Национальные экспозиции представили Белоруссия, Иран и Китай.

2019, Mozhaev, R. K., Cherniak, M. E., Pechenkin, A. A., Ulanova, A. V., Nikiforov, A. Y., Можаев, Роман Константинович, Печенкин, Александр Александрович, Уланова, Анастасия Владиславовна, Никифоров, Александр Юрьевич

© 2019 IEEE.A method for radiation hardness evaluation of digital and microwave transmitting-receiving optoelectronic modules is presented. The technical aspects of parameters monitoring during exposure are described. The most vulnerable components of optoelectronic modules are identified.

2019, Lukashin, V. P., Cherniak, M. E., Akhmetov, A. O., Nikiforov, A. Y., Ulanova, A. V., Лукашин, Владислав Павлович, Никифоров, Александр Юрьевич, Уланова, Анастасия Владиславовна

© 2019 IEEE.The paper presents a method of device monitoring during radiation testing for charge coupled devices with interline transfer (hereinafter-CCD). The results of heavy ions, dose rate and total ionizing dose tests are presented together with the description of the developed software and hardware set-up based on the National Instruments platform and on the designed specialized equipment adapted for radiation tests.

2024, Никифоров, А. Ю., Никифоров, Александр Юрьевич

2019, Shemonaev, A. N., Epifantsev, K. A., Skorobogatov, P. K., Nikiforov, A. Y., Шемонаев, Александр Николаевич, Епифанцев, Константин Алексеевич, Скоробогатов, Петр Константинович, Никифоров, Александр Юрьевич

© 2019 IEEE.The paper presents the results of ARM 32-bit Cortex-M0 and M4 CMOS microcontroller's sensitivity to a series of voltage pulses in comparison to a single pulse-all with damage subthreshold energy. The effect of pulses amount on the device voltage overstress threshold value was found and analyzed.

2024, Никифоров, А. Ю., Никифоров, Александр Юрьевич

Здравствуйте, уважаемые читатели и авторы журнала «Безопасность информационных технологий»! Вот и еще год нашей жизни – тридцатый, юбилейный, год нашего журнала пролетел-просвистел (почти). Теперь журнал выходит в цвете – новые возможности для иллюстраций. Аудитория журнала и его востребованность научным сообществом растут – сейчас мы относимся ко второй квартили по уровню цитируемости и замахиваемся на первый квартиль. В этой колонке и в целом в данном выпуске журнала мы подождем подводить итоги года – на момент готовности издания номера до Нового года осталось еще немало времени. Первое что здесь и сейчас совершенно необходимо сделать – это поздравить с 70-летием двух очень важных для нашего журнала и меня лично коллег-корифеев – д.т.н., профессора Александра Александровича Шелупанова из ТУСУРа и к.т.н. Анатолия Петровича Дураковского из НИЯУ МИФИ – что и делаю от души и с огромным удовольствием! Здоровья, творческого долголетия и отличного настроения Вам – учителям, соратникам и друзьям! Более подробно – на отдельных вкладках этого номера журнала. Одним из наиболее важных информационных событий по тематике журнала за рассматриваемый период был десятый Российский Форум «Микроэлектроника 2024» (далее – Форум»), который прошел с 23 по 28 сентября с.г. в Парке науки и искусств Федеральной территории «Сириус». Очень информативный обзор пленарных заседаний Форума опубликован в журнале «ЭЛЕКТРОНИКА: наука, технология, бизнес», который, является генеральным информационным партнером Форума. И уже второй год с любезного разрешения наших друзей и коллег мы перепечатываем профильную для нас часть этого материала, в том числе описание пленарного заседания «Доверенные программно-аппаратные комплексы и ЭКБ для объектов критической информационной инфраструктуры (КИИ)», в рубрике «События и мнения» нашего журнала.