Publication:
Proton Accelerator's Direct Ionization Single Event Upset Test Procedure

Дата
2019
Авторы
Akhmetov, A. O.
Sorokoumov, G. S.
Smolin, A. A.
Bobrovsky, D. V.
Boychenko, D. V.
Nikiforov, A. Y.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 IEEE.The paper presents single event upset (SEU) experimental results in Spartan-6 FPGA due to direct and indirect proton ionization. High energy proton beam and aluminum foils were used to decrease proton energy down to 1.. 20 MeV to observe proton direct ionization upsets.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Proton Accelerator's Direct Ionization Single Event Upset Test Procedure / Akhmetov, A.O. [et al.] // 2019 IEEE 31st International Conference on Microelectronics, MIEL 2019 - Proceedings. - 2019. - P. 107-110. - 10.1109/MIEL.2019.8889634
URI
https://www.doi.org/10.1109/MIEL.2019.8889634
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85075370966&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/18915
Коллекции
Публикации