Персона:
Сорокоумов, Георгий Сергеевич

Profile Picture
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Статус
Фамилия
Сорокоумов
Имя
Георгий Сергеевич
Имя

Фильтры

2019 - 201922020 - 20235
61
7
Сброс фильтров

Настройки

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 7 из 7
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Открытый доступ
    Зависимость спектральных характеристик сигма-дельта аналого-цифровых преобразователей от поглощенной дозы ионизирующего излучения
    (2023) Калашникова, М. О. ; Торшин, Р. С. ; Сорокоумов, Г. С. ; Бойченко, Д. В. ; Демидов, Александр Алексеевич; Бойченко, Дмитрий Владимирович; Сорокоумов, Георгий Сергеевич; Торшин, Роман Сергеевич
    В работе проводилось исследование зависимости основных спектральных параметров аналого-цифровых преобразователей (АЦП) архитектуры сигма-дельта от поглощенной дозы. В исследованиях контролировались основные критериальные параметры АЦП: динамические, статические и электрические. Основными динамическими характеристиками сигма-дельта АЦП являются отношение сигнал-шум (SNR), динамический диапазон, свободный от гармоник (SFDR), отношение сигнала к шуму и искажениям (SINAD) и полные нелинейные искажения (THD), которые определялись по спектру оцифрованного синусоидального сигнала с помощью быстрого преобразования Фурье (БПФ). Статические параметры (интегральная нелинейность (ИНЛ), ошибки смещения и усиления) определялись с помощью прямой, линеаризирующей передаточную характеристику, по методике, описанной в стандарте IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Analog-to-Digital Converters. В качестве контрольно-измерительного оборудования для тестирования критериальных параметров использовались модульные измерительные приборы фирмы National Instruments. Получены сравнительные данные о дозовой зависимости статических и динамических параметров микросхем сигма-дельта АЦП и сигма-дельта модулятора. На основании результатов сделан вывод, что наиболее чувствительными параметрами сигма-дельта АЦП к дозовому воздействию являются динамические параметры, поэтому при оценке стойкости сигма-дельта АЦП к воздействию поглощенной дозы необходим контроль его спектральных характеристик.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Mechanisms of Initiation of Unstable Latchup Effects in CMOS ICs
    (2019) Chumakov, A. I.; Bobrovsky, D. V.; Pechenkin, A. A.; Savchenkov, D. V.; Sorokoumov, G. S.; Shvetsov-Shilovskiy, I. I.; Чумаков, Александр Иннокентьевич; Бобровский, Дмитрий Владимирович; Печенкин, Александр Александрович; Сорокоумов, Георгий Сергеевич; Швецов-Шиловский, Иван Иванович
    © 2019, Pleiades Publishing, Ltd.Abstract: The results of research on nonstationary latchup effects (LEs) under the influence of heavy charged particles and ionizing radiation pulses, which are spontaneously counteracted depending on the operating conditions, are presented. This behavior is caused by the effects of the rail span collapse inside the complementary metal-oxide-system (CMOS) of very large scale integrated (VLSI) circuits. The experimental studies are carried out on both the ion accelerator and the laser facilities.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Proton Accelerator's Direct Ionization Single Event Upset Test Procedure
    (2019) Akhmetov, A. O.; Sorokoumov, G. S.; Smolin, A. A.; Bobrovsky, D. V.; Boychenko, D. V.; Nikiforov, A. Y.; Сорокоумов, Георгий Сергеевич; Бобровский, Дмитрий Владимирович; Бойченко, Дмитрий Владимирович; Никифоров, Александр Юрьевич
    © 2019 IEEE.The paper presents single event upset (SEU) experimental results in Spartan-6 FPGA due to direct and indirect proton ionization. High energy proton beam and aluminum foils were used to decrease proton energy down to 1.. 20 MeV to observe proton direct ionization upsets.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Measurement of Parameters of Analog-to-Digital Converters Based on the NI Hardware-Software Complex in the Course of a Radiation Experiment
    (2021) Torshin, R. S.; Sorokoumov, G. S.; Bobrovsky, D. V.; Titovets, D. O.; Kalashnikova, M. O.; Торшин, Роман Сергеевич; Сорокоумов, Георгий Сергеевич; Бобровский, Дмитрий Владимирович; Титовец, Дмитрий Олегович
    © 2021 IEEE.The paper presents an automated system for functional and parametric control of analog-to-digital converters (ADC) during a radiation experiment. The automated measuring system is based on the combined use of modular PXI equipment manufactured by National Instruments and the signal generator SMA100B manufactured by Rohde Schwarz (RS). The PXI-4461 module is the most significant module in the system. Hardware and software operations of the measuring system are discussed in the paper. The parameters controlled during total ionizing dose (TID) tests are listed in the paper alongside the algorithm for parametric control. We describe a histogram method for removing input noise. In order to mitigate drawbacks of histogram method, we measured sample median for each ADC code value during the experiment. With the help of this system, the main static and dynamic parameters of test ADCs are calculated and their degradation during irradiation at the Cs-137 isotope source is shown. Specifications for quantifying ADC dynamic performance were based on an FFT results analysis. Typical TID effects in ADCs are observed: degradation of the transfer function and associated deterioration of the accuracy parameters: integral nonlinearity, differential nonlinearity, offset and gain errors.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    A Methodical Approach to the Study of the Radiation Hardness of Transceivers under the Total Dose Effect and Heavy Ions Exposure
    (2022) Vaskin, R.; Sorokoumov, G.; Saprykina, V.; Васькин, Роман Евгеньевич; Сорокоумов, Георгий Сергеевич; Сапрыкина, Василина Сергеевна
    © 2022 IEEE.This article presents a methodological approach to measuring the parameters of the criterion of acceptability for transceivers during a radiation experiment. The article describes the main radiation effects in transceivers when exposed to ionizing radiation from outer space. A classification of failures in transceivers and methods for carrying out functional and parametric control are also presented.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Total Ionizing Dose Effects in High-Speed 16-bit Analog-to-Digital Converter
    (2022) Torshin, R.; Bobrovsky, D.; Ulanova, A.; Sorokoumov, G.; Kalashnikova, M.; Titovets, D.; Торшин, Роман Сергеевич; Бобровский, Дмитрий Владимирович; Уланова, Анастасия Владиславовна; Сорокоумов, Георгий Сергеевич; Титовец, Дмитрий Олегович
    © 2022 IEEE.The paper presents the research results of Total Ionizing Dose (TID) Effects in high-speed (80 MSPS) analog-to-digital converter (ADC). The article incorporates the description of the equipment for parametric control of the device under test and methodology for measuring ADC characteristics. The article also presents pre-irradiation graphs of integral non-linearity (INL), differential non-linearity (DNL), amplitude spectrum and its degradation during exposure. With regard to findings of the study was determined the most critical operation mode of the Device Under Test (DUT) during irradiation and the most TID sensitive parameter.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    The Optimal Measuring System Composition for the Transceivers Radiation Hardness Investigation
    (2021) Vaskin, R. E.; Kalashnikov, V. D.; Sorokoumov, G. S.; Boychenko, D. V.; Васькин, Роман Евгеньевич; Калашников, Владислав Дмитриевич; Сорокоумов, Георгий Сергеевич; Бойченко, Дмитрий Владимирович
    © 2021 IEEE.Modern transceivers are widely used in the design of the on-board equipment of spacecraft. The effects of space ionizing radiation can lead to failures in operation of transceivers, leading to a loss of the transmitted data. It is necessary to provide radiation hardness assurance of transceivers in order to evaluate the rate of upsets in the operation of transceivers used the on-board equipment of spacecraft. The paper describes main types of failures observed in interface ICs operating in space radiation environment. The classification of functional failures in transceivers exposed to ionizing radiation and monitoring methods are presented in this paper. Parameters of transceivers that has to be monitored during radiation testing are listed. We reviewed National Instruments equipment used in radiation testing of different types of transceivers. A measuring system based on this equipment was used for radiation testing of TLK2711 transceiver in loop operation mode over a serial data channel.