Publication:
The Optimal Measuring System Composition for the Transceivers Radiation Hardness Investigation

Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2021 IEEE.Modern transceivers are widely used in the design of the on-board equipment of spacecraft. The effects of space ionizing radiation can lead to failures in operation of transceivers, leading to a loss of the transmitted data. It is necessary to provide radiation hardness assurance of transceivers in order to evaluate the rate of upsets in the operation of transceivers used the on-board equipment of spacecraft. The paper describes main types of failures observed in interface ICs operating in space radiation environment. The classification of functional failures in transceivers exposed to ionizing radiation and monitoring methods are presented in this paper. Parameters of transceivers that has to be monitored during radiation testing are listed. We reviewed National Instruments equipment used in radiation testing of different types of transceivers. A measuring system based on this equipment was used for radiation testing of TLK2711 transceiver in loop operation mode over a serial data channel.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
The Optimal Measuring System Composition for the Transceivers Radiation Hardness Investigation / Vaskin, R.E. [et al.] // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications. - 2021. - 10.1109/SIBCON50419.2021.9438912
Коллекции