Publication:
A Methodical Approach to the Study of the Radiation Hardness of Transceivers under the Total Dose Effect and Heavy Ions Exposure

Дата
2022
Авторы
Vaskin, R.
Sorokoumov, G.
Saprykina, V.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт интеллектуальных кибернетических систем
Цель ИИКС и стратегия развития - это подготовка кадров, способных противостоять современным угрозам и вызовам, обладающих знаниями и компетенциями в области кибернетики, информационной и финансовой безопасности для решения задач разработки базового программного обеспечения, повышения защищенности критически важных информационных систем и противодействия отмыванию денег, полученных преступным путем, и финансированию терроризма.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2022 IEEE.This article presents a methodological approach to measuring the parameters of the criterion of acceptability for transceivers during a radiation experiment. The article describes the main radiation effects in transceivers when exposed to ionizing radiation from outer space. A classification of failures in transceivers and methods for carrying out functional and parametric control are also presented.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Vaskin, R. A Methodical Approach to the Study of the Radiation Hardness of Transceivers under the Total Dose Effect and Heavy Ions Exposure / Vaskin, R., Sorokoumov, G., Saprykina, V. // Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies, MWENT 2022 - Proceedings. - 2022. - 10.1109/MWENT55238.2022.9802392
URI
https://www.doi.org/10.1109/MWENT55238.2022.9802392
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85134071346&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/28120
Коллекции
Публикации