Publication:
КОЛОНКА ГЛАВНОГО РЕДАКТОРА

Дата
2024
Авторы
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Выпуск журнала
Аннотация
Здравствуйте, уважаемые читатели и авторы журнала «Безопасность информационных технологий»! Вот и еще год нашей жизни – тридцатый, юбилейный, год нашего журнала пролетел-просвистел (почти). Теперь журнал выходит в цвете – новые возможности для иллюстраций. Аудитория журнала и его востребованность научным сообществом растут – сейчас мы относимся ко второй квартили по уровню цитируемости и замахиваемся на первый квартиль. В этой колонке и в целом в данном выпуске журнала мы подождем подводить итоги года – на момент готовности издания номера до Нового года осталось еще немало времени. Первое что здесь и сейчас совершенно необходимо сделать – это поздравить с 70-летием двух очень важных для нашего журнала и меня лично коллег-корифеев – д.т.н., профессора Александра Александровича Шелупанова из ТУСУРа и к.т.н. Анатолия Петровича Дураковского из НИЯУ МИФИ – что и делаю от души и с огромным удовольствием! Здоровья, творческого долголетия и отличного настроения Вам – учителям, соратникам и друзьям! Более подробно – на отдельных вкладках этого номера журнала. Одним из наиболее важных информационных событий по тематике журнала за рассматриваемый период был десятый Российский Форум «Микроэлектроника 2024» (далее – Форум»), который прошел с 23 по 28 сентября с.г. в Парке науки и искусств Федеральной территории «Сириус». Очень информативный обзор пленарных заседаний Форума опубликован в журнале «ЭЛЕКТРОНИКА: наука, технология, бизнес», который, является генеральным информационным партнером Форума. И уже второй год с любезного разрешения наших друзей и коллег мы перепечатываем профильную для нас часть этого материала, в том числе описание пленарного заседания «Доверенные программно-аппаратные комплексы и ЭКБ для объектов критической информационной инфраструктуры (КИИ)», в рубрике «События и мнения» нашего журнала.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Коллекции