Publication:
Microcontroller's Sensitivity to Voltage Pulse Series in Comparison with a Single Voltage Pulse

Дата
2019
Авторы
Shemonaev, A. N.
Epifantsev, K. A.
Skorobogatov, P. K.
Nikiforov, A. Y.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 IEEE.The paper presents the results of ARM 32-bit Cortex-M0 and M4 CMOS microcontroller's sensitivity to a series of voltage pulses in comparison to a single pulse-all with damage subthreshold energy. The effect of pulses amount on the device voltage overstress threshold value was found and analyzed.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Microcontroller's Sensitivity to Voltage Pulse Series in Comparison with a Single Voltage Pulse / Shemonaev, A.N. [et al.] // 2019 IEEE 31st International Conference on Microelectronics, MIEL 2019 - Proceedings. - 2019. - P. 337-340. - 10.1109/MIEL.2019.8889638
URI
https://www.doi.org/10.1109/MIEL.2019.8889638
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85075385961&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/18901
Коллекции
Публикации