Publication:
Software and Hardware System for Charge Coupled Devices with Interline Transfer of Charge Parameters Monitoring during Radiation Tests

Дата
2019
Авторы
Lukashin, V. P.
Cherniak, M. E.
Akhmetov, A. O.
Nikiforov, A. Y.
Ulanova, A. V.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 IEEE.The paper presents a method of device monitoring during radiation testing for charge coupled devices with interline transfer (hereinafter-CCD). The results of heavy ions, dose rate and total ionizing dose tests are presented together with the description of the developed software and hardware set-up based on the National Instruments platform and on the designed specialized equipment adapted for radiation tests.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Software and Hardware System for Charge Coupled Devices with Interline Transfer of Charge Parameters Monitoring during Radiation Tests / Lukashin, V.P. [et al.] // 2019 IEEE 31st International Conference on Microelectronics, MIEL 2019 - Proceedings. - 2019. - P. 345-348. - 10.1109/MIEL.2019.8889621
URI
https://www.doi.org/10.1109/MIEL.2019.8889621
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85075339705&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000565455600078
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/18910
Коллекции
Публикации