Publication:
Smart Sub-Microelectronics Radiation Behavior Trends and Test Facilities Evolution

Дата
2021
Авторы
Nikiforov, A. Y.
Gorbunov, M. S.
Smolin, A. A.
Davydov, G. G.
Boychenko, D. V.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт интеллектуальных кибернетических систем
Цель ИИКС и стратегия развития - это подготовка кадров, способных противостоять современным угрозам и вызовам, обладающих знаниями и компетенциями в области кибернетики, информационной и финансовой безопасности для решения задач разработки базового программного обеспечения, повышения защищенности критически важных информационных систем и противодействия отмыванию денег, полученных преступным путем, и финансированию терроризма.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2021 IEEE.We provide a brief evolution trends overview of the modern microelectronic devices and its radiation behaviour, focusing on new structures and materials effects due to Total Ionizing Dose (TID) and Single Event effects (SEE) in CMOS elements. Evolution of test facilities driven by these changes in radiation behaviour of modern devices is also considered.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Smart Sub-Microelectronics Radiation Behavior Trends and Test Facilities Evolution / Nikiforov, A.Y. [et al.] // Proceedings of the International Conference on Microelectronics, ICM. - 2021. - 2021-September. - P. 37-44. - 10.1109/MIEL52794.2021.9569095
URI
https://www.doi.org/10.1109/MIEL52794.2021.9569095
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85118437216&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/24917
Коллекции
Публикации