Publication:
Measurement of Parameters of Analog-to-Digital Converters Based on the NI Hardware-Software Complex in the Course of a Radiation Experiment

Дата
2021
Авторы
Torshin, R. S.
Sorokoumov, G. S.
Bobrovsky, D. V.
Titovets, D. O.
Kalashnikova, M. O.
Титовец, Дмитрий Олегович
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2021 IEEE.The paper presents an automated system for functional and parametric control of analog-to-digital converters (ADC) during a radiation experiment. The automated measuring system is based on the combined use of modular PXI equipment manufactured by National Instruments and the signal generator SMA100B manufactured by Rohde Schwarz (RS). The PXI-4461 module is the most significant module in the system. Hardware and software operations of the measuring system are discussed in the paper. The parameters controlled during total ionizing dose (TID) tests are listed in the paper alongside the algorithm for parametric control. We describe a histogram method for removing input noise. In order to mitigate drawbacks of histogram method, we measured sample median for each ADC code value during the experiment. With the help of this system, the main static and dynamic parameters of test ADCs are calculated and their degradation during irradiation at the Cs-137 isotope source is shown. Specifications for quantifying ADC dynamic performance were based on an FFT results analysis. Typical TID effects in ADCs are observed: degradation of the transfer function and associated deterioration of the accuracy parameters: integral nonlinearity, differential nonlinearity, offset and gain errors.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Measurement of Parameters of Analog-to-Digital Converters Based on the NI Hardware-Software Complex in the Course of a Radiation Experiment / Torshin, R.S. [et al.] // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications. - 2021. - 10.1109/SIBCON50419.2021.9438886
URI
https://www.doi.org/10.1109/SIBCON50419.2021.9438886
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85107678349&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000680842100037
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/24204
Коллекции
Публикации