Publication:
Reflectance Modification in Nanostructured Silicon Layers with Gradient Porosity

Дата
2019
Авторы
Mussabek, G. K.
Yermukhamed, D.
Suleimenova, Z. A.
Assilbayeva, R. B.
Zavestovskaya, I. N.
Timoshenko, V. Y.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Инженерно-физический институт биомедицины
Цель ИФИБ и стратегия развития – это подготовка высококвалифицированных кадров на базе передовых исследований и разработок новых перспективных методов и материалов в области инженерно-физической биомедицины. Занятие лидерских позиций в биомедицинских технологиях XXI века и внедрение их в образовательный процесс, что отвечает решению практикоориентированной задачи мирового уровня – диагностике и терапии на клеточном уровне социально-значимых заболеваний человека.
Выпуск журнала
Аннотация
A significant change in effective reflectance spectra of nanostructured porous silicon layers grown with different times of metal-assisted chemical etching is detected. The low reflectances at the level of 5-10% measured in the spectral range of 200-400 nm are explained by strong elastic scattering of light in combination with absorption in silicon nanostructures, while a reflectance increase in the range of 500-1800 nm, which is visually detected as a "white" layer appearance is associated with Mie scattering in silicon nanostructures with gradient porosity under conditions of weak optical absorption. The results obtained are discussed from the viewpoint of potential applications of "black" and "white" nanocrystalline silicon in photonics and sensorics.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Reflectance Modification in Nanostructured Silicon Layers with Gradient Porosity / Mussabek, GK [et al.] // Bulletin of the Lebedev Physics Institute. - 2019. - 46. - № 10. - P. 314-318. - 10.3103/S106833561910004X
Коллекции