Publication:
ОБЗОР КОНФЕРЕНЦИИ МИКРОЭЛЕКТРОННЫЕ СИСТЕМЫ (МЭС-2026)

Дата
2026
Journal Title
Безопасность информационных технологий
Journal ISSN
Volume Title
Безопасность Информационных Технологий
Издатель
НИЯУ МИФИ
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Выпуск журнала
Аннотация
Представлен краткий обзор конференции «Микроэлектронные системы» (МЭС-2026), прошедшей 27–28 мая 2026 г. в Сколтехе при поддержке РАН, Минпромторга, Росатома и Сбера. Работа проводилась по пяти секциям: искусственный интеллект и микроэлектроника, фотоника и фотонные интегральные схемы, квантовые сенсоры, инновационные методы создания и изготовления микроэлектронных систем, специализированные системы для робототехники и космоса. Освещены основные тренды, направления развития и вызовы перед промышленностью.
Описание
Ключевые слова
Обзор , МЭС-2026 , Конференция микроэлектронные системы
Цитирование
Можаев, Р. (2026). Обзор конференции микроэлектронные системы (МЭС-2026). Безопасность информационных технологий, 33(4), 197-202. doi: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2026.4.17
Коллекции