Journal Issue: Безопасность информационных технологий
Загружается...
Volume
2026-33
Number
4
Issue Date
Journal Title
Безопасность информационных технологий
Journal ISSN
2074-7128 (Print)
Том журнала
Том журнала
Безопасность Информационных Технологий
Безопасность информационных технологий (2026-33)
Статьи
Публикация
Открытый доступ
КОЛОНКА ГЛАВНОГО РЕДАКТОРА
(НИЯУ МИФИ, 2026) Никифоров, А. Ю.; Никифоров, Александр Юрьевич
Совсем скоро осень, а значит и наши встречи на Российском форуме «Микроэлектроника 2026», который состоится на ФТ «Сириус» с 27 сентября по 3 октября. Научная программа секций Форума в значительной степени уже сформирована и в ней запланировано проведение традиционного трека обзорно дискуссионных заседаний «Доверенные ЭКБ и ПАК для регулируемых рынков КИИ», развивающего и дополняющего одноименную Предсессию Форума, проведенную в рамках выставки «ExpoElectronica» в апреле с.г. – подробный отчет представлен в колонке главного редактора прошлого (№ 3) выпуска журнала БИТ.
Стартовое заседание первого дня трека планируем посвятить технологической безопасности – защите цепочек поставок ЭКБ (организатор – Л.Н. Кессаринский). Далее рассмотрим состояние дел по переходу значимых объектов КИИ на доверенные ПАК (организатор – К.А. Смазнов).
Второй день трека посвятим вопросам обеспечения кибербезопасности ЭКБ и радиоэлектронной продукции (РЭП). Так на заседании № 3 рассмотрим применимость наработанного опыта и методологического инструментария поиска и парирования уязвимостей в ПО для анализа защищенности аппаратной части РЭП (организатор – Д.П. Зегжда). На следующем заседании (№ 4) рассмотрим подходы и разрабатываемые нормативно-методические документы по аппаратной защите информации в интегральных микросхемах и доверенной среде исполнения (организатор – А.И. Тихонов).
Завершающий день трека посвятим общим требованиям к разработке доверенных микросхем (заседание № 5, организатор – Н.А. Усачев) и общим требованиям к поставке доверенных микросхем (заседание № 6, организатор – А.Ю. Никифоров). Отмечу, что в этом году основной площадкой трека будет Диджитал-центр НИЯУ МИФИ и Госкорпорации «Росатом» в выставочной зоне Форума.
Большинство докладов трека обзорно-дискуссионных заседаний являются приглашенными и как организатор этого мероприятия приношу свои ежегодные извинения участникам Форума, которые при регистрации заявили свое желание представить доклады в рамках трека – большинство из них приглашаю доложиться на Предконференции № 1 Форума, которая в этом году состоится с 7 по 10 сентября в г. Москве на базе консорциума НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС» «Доверенные и экстремальные электронные системы».
Структура научной программы Предконференции № 1 Форума также вполне отработана. В первый день (7.09.26) состоится два заседания: первое посвящено экстремальной электронике – всем вопросам обеспечения и контроля работоспособности ЭКБ в экстремальных режимах (силовая и высоковольтная электроника) и условиях эксплуатации, в т.ч. при радиационных, электромагнитных и температурных воздействиях (организатор – Г.В. Чуков). Послеобеденное заседание будет посвящено тематике развития электронного машиностроения и материалов, аналитического и тестового оборудования, которые являются базисом для построения доверенной и экстремальной электроники (организатор – А.В. Уланова).
Тематика заседания второго дня Предконференции № 1 (8.08.26) направлена на все аспекты разработки и производства изделий доверенной и экстремальной микроэлектроники, СВЧ-электроники, оптоэлектроники, сенсорики и микросистемной техники (организатор – Н.А. Усачев). Во второй половине дня будут проведен мастер-класс по заявленной тематике заседания.
Публикация
Открытый доступ
ИССЛЕДОВАНИЕ РАДИАЦИОННОГО ПОВЕДЕНИЯ И СТОЙКОСТИ К СУММАРНОЙ ПОГЛОЩЕННОЙ ДОЗЕ МОДУЛЕЙ УСИЛИТЕЛЕЙ НА ОСНОВЕ ВОЛОКНА, ЛЕГИРОВАННОГО ЭРБИЕМ
(НИЯУ МИФИ, 2026) Можаев, Р. К.; Печенкин, А. А.; Телец, В. А.; Телец, Виталий Арсеньевич; Печенкин, Александр Александрович; Можаев, Роман Константинович
В статье представлены результаты экспериментальных исследований радиационной стойкости модулей усилителей на основе волокна, легированного эрбием (EDFA), предназначенных для систем космической лазерной связи. Проведено облучение гамма-квантами источника Co60 семи образцов EDFA-усилителей от четырёх различных производителей. Образцы испытывались в активном режиме с автоматической подстройкой мощности. Обнаружен функциональный отказ при дозах от 7,6 до 28,2 крад (Si) в зависимости от конкретного типа усилителя, проявляющийся в потере управления EDFA-усилителем. Рассмотрена динамика изменения тока потребления и выходной оптической мощности в процессе накопления дозы, включая явления, предшествующие отказу. На основе анализа компонентной базы и литературных данных показано, что критическим звеном, определяющим радиационную стойкость EDFA-усилителя, является не активное волокно, не оптоэлектронные и пассивные оптические компоненты, а электронная схема управления. Деградация микроэлектронных компонентов (драйверов, контроллеров, интерфейсных микросхем) наступает при более низких уровнях ионизирующего воздействия и приводит к выходу устройства из строя и потере связи с усилителем, в то время как оптические и оптоэлектронные компоненты могут сохранять частичную или полную работоспособность. Полученные результаты указывают на необходимость тщательного анализа электронной составляющей при отборе коммерчески доступных EDFA-усилителей для длительных космических миссий.
Публикация
Открытый доступ
ГРАФОВЫЕ МОДЕЛИ ПРОЦЕССОВ РЕАЛИЗАЦИИ УГРОЗ БЕЗОПАСНОСТИ ИНФОРМАЦИИ ПОСРЕДСТВОМ «ФИШИНГ-АТАКИ» НА АВТОМАТИЗИРОВАННЫЕ СИСТЕМЫ ОРГАНОВ ВНУТРЕННИХ ДЕЛ
(НИЯУ МИФИ, 2026) Тужикова, Т. Ю.; Дровникова, И. Г.
Целью статьи является разработка графовых моделей процессов реализации угроз безопасности информации (УБИ) посредством «фишинг-атак» на автоматизированные системы (АС) органов внутренних дел (ОВД) с характеристикой всех возможных состояний и переходов для типичных угроз в условиях отсутствия мер защиты информации (ЗИ) или применения стандартных мер защиты, обеспечиваемых штатными средствами операционных систем (ОС), либо наличия простейших ограничений, устанавливаемых администратором системы. Для достижения поставленной цели применен метод формирования графов на основе вероятностных и стохастических моделей. На начальном этапе разработки графовых моделей определены компоненты обобщенной модели процесса реализации УБИ посредством «фишинг-атаки» на АС и взаимосвязи между ними. Дальнейшее описание свойств и характеристик данного процесса осуществлялось применительно к типичным для АС ОВД угрозам. Результатом является разработка графовых моделей процессов реализации типичных угроз с учетом категории и потенциала злоумышленника, что позволяет перейти от вербальных моделей к формальному описанию последовательности действий злоумышленника, необходимому для разработки аналитических моделей расчета показателей оценки возможностей реализации «фишинг-атак». Перспективы практического применения полученных результатов связаны с разработкой методического обеспечения количественной оценки эффективности ЗИ в АС ОВД от УБИ, реализуемых посредством «фишинг-атак», с учетом снижения вероятностей несанкционированного доступа (НСД) к информационным ресурсам в зависимости от применяемых средств защиты и фактора времени.
Публикация
Открытый доступ
ФОРМАЛЬНАЯ ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ УПРАВЛЕНИЯ ИНФОРМАЦИОННОЙ БЕЗОПАСНОСТЬЮ ПРЕДПРИЯТИЯ
(НИЯУ МИФИ, 2026) Правиков, Д. И.; Курило, А. П.; Буркин, В. А.; Ермачков, Д. И.
Рассматривается задача формальной постановки управления информационной безопасностью предприятия в условиях нормативного регулирования и усложнения информационных инфраструктур. Цель работы – разработка формализованной модели управления, обеспечивающей обоснованное принятие решений на основе воспроизводимых и интерпретируемых показателей. В качестве методологической основы используется подход, предусматривающий разделение результатных и процессных характеристик системы информационной безопасности, а также их интеграцию в рамках единого управленческого контура. В работе предложена модель, основанная на совместном использовании показателя защищённости информации, отражающего текущее состояние реализации мер защиты, и показателя зрелости процессов, характеризующего управляемость, воспроизводимость и устойчивость системы управления. Показано, что оценка защищённости информации является частью управленческого цикла и выполняет функцию контроля и обратной связи. Формализована зависимость между результатными и процессными показателями, введены ограничения на интерпретацию результатов, исключающие возможность компенсации недостатков управления формальным выполнением требований. Получены результаты, позволяющие классифицировать состояния системы управления информационной безопасностью по критериям устойчивости, управляемости и способности к развитию. Предложенная модель обеспечивает выявление областей, требующих управленческого воздействия, определение приоритетов совершенствования и обоснование корректирующих управленческих решений. Область применения результатов включает разработку и совершенствование систем управления информационной безопасностью предприятий, применение в методиках оценки и в автоматизированных системах поддержки принятия решений. Сделан вывод о необходимости перехода от статической оценки защищённости к управлению устойчивостью и развитием системы информационной безопасности.
Публикация
Открытый доступ
ОЦЕНКА ПАРАМЕТРОВ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ ПО ОДИНОЧНЫМ РАДИАЦИОННЫМ ЭФФЕКТАМ НА УСКОРИТЕЛЯХ ИОНОВ С ЭНЕРГИЯМИ БОЛЕЕ 100 МэВ/нуклон
(НИЯУ МИФИ, 2026) Чумаков, А. И.; Бобровский, Д. В.; Согоян, А. В.; Смолин, А. А.; Согоян, Армен Вагоевич; Чумаков, Александр Иннокентьевич; Бобровский, Дмитрий Владимирович
В работе проведен анализ особенностей оценки параметров чувствительности интегральных микросхем по одиночным радиационным эффектам (ОРЭ) на станции «ИСКРА», входящей в состав нуклотронного комплекса «NICA» ОИЯИ, г. Дубна. Отличительной особенностью этого комплекса является наличие ионов очень высоких энергий в диапазоне 150…500 МэВ/нуклон, что позволяет проводить облучение электронных изделий в атмосфере без проведения предварительных операций декапсулирования (удаления части корпуса над поверхностью кристалла). Однако при таких высоких энергиях значения линейных потерь энергии (ЛПЭ) даже для тяжелых ионов оказываются менее 30…40 МэВ.см2/мг. Поэтому для увеличения значений ЛПЭ возникает необходимость в применении ослабителя энергии. Из-за взаимодействия первичных ионов с материалами ослабителя энергии, конструкции корпуса и т.п. первичные ионы неравномерно теряют часть своей энергии, а также имеет место образование вторичных частиц, что, в конечном счете, приводит к размытому спектру ЛПЭ в активном слое исследуемого изделия. В работе представлены результаты численного моделирования изменений энергий, ЛПЭ и вклада вторичных частиц с помощью программ SRIM и Geant4. Показано, что влияние вторичных частиц проявляется в значительной степени в области малых значений ЛПЭ и на «хвосте» при практически полном поглощении первичных частиц. Предложен методический подход для оценки параметров чувствительности электронных изделий в диапазоне изменений ЛПЭ на станции «ИСКРА» за счет изменения толщины ослабителя. Показано, за счет рассеяния и ядерных реакций в величинах энергий ионов имеют место большие неопределенности при их торможении до значений менее 10…15 МэВ/нуклон.