Publication:
True Dose Rate Effect of the ELDRS Conversional Model

Дата
2020
Авторы
Pershenkov, V. S.
Zhukov, A. S.
Belyakov, V. V.
Bakerenkov, A. S.
Telets, V. A.
Felitsyn, V. A.
Rodin, A. S.
Показать ещё 1
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
The possible physical mechanism of true dose rate effect is described using ELDRS conversional model. The effect of the oxide trapped charge on the value of the oxide electric field is taken into account. © 2020 IEEE.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
True Dose Rate Effect of the ELDRS Conversional Model / Pershenkov, V.S. [et al.] // 2020 20th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2020 - Proceedings. - 2020. - 10.1109/RADECS50773.2020.9857689
URI
https://www.doi.org/10.1109/RADECS50773.2020.9857689
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85137982144&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000861424900003
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/23264
Коллекции
Публикации