Publication:
The Use of Microelectronics Radiation Behavior as Physical Uncloned Function to Find Counterfeit

Дата
2020
Авторы
Hovsepyan, H. A.
Kessarinskiy, L. N.
Shirin, A. O.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт интеллектуальных кибернетических систем
Цель ИИКС и стратегия развития - это подготовка кадров, способных противостоять современным угрозам и вызовам, обладающих знаниями и компетенциями в области кибернетики, информационной и финансовой безопасности для решения задач разработки базового программного обеспечения, повышения защищенности критически важных информационных систем и противодействия отмыванию денег, полученных преступным путем, и финансированию терроризма.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2020 IEEE.The article is devoted to the problem of counterfeiting electronic devices. The global trend is that the number of counterfeit microcircuits (and not only ICs) is increasing, but the effectiveness of detection methods is falling. Even using all known methods, the probability of identifying counterfeit is only a few percent. One of the methods to combat counterfeiting is to label authentic components. And the most secure label technique based on physical uncloned functions (PUF). So it is proposed to use the different features of radiation behavior degradation as PUF. A few examples of this use are presented in the article.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Hovsepyan, H. A. The Use of Microelectronics Radiation Behavior as Physical Uncloned Function to Find Counterfeit / Hovsepyan, H.A., Kessarinskiy, L.N., Shirin, A.O. // Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies, MWENT 2020 - Proceedings. - 2020. - 10.1109/MWENT47943.2020.9067496
URI
https://www.doi.org/10.1109/MWENT47943.2020.9067496
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85083977334&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/21651
Коллекции
Публикации