Publication:
Optical Diagnostics of Free Charge Carriers in Silicon Nanowire Arrays

Дата
2020
Авторы
Rodichkina, S. P.
Nychyporuk, T.
Pavlikov, A. V.
Lysenko, V.
Timoshenko, V. Y.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Инженерно-физический институт биомедицины
Цель ИФИБ и стратегия развития – это подготовка высококвалифицированных кадров на базе передовых исследований и разработок новых перспективных методов и материалов в области инженерно-физической биомедицины. Занятие лидерских позиций в биомедицинских технологиях XXI века и внедрение их в образовательный процесс, что отвечает решению практикоориентированной задачи мирового уровня – диагностике и терапии на клеточном уровне социально-значимых заболеваний человека.
Выпуск журнала
Аннотация
The impact of free charge carriers in arrays of silicon nanowires (SiNWs) of p- and n-type conductivities on their optical properties is probed by means of the infrared spectroscopy in attenuated total reflectance mode (IR-ATR) and Raman scattering. SiNWs are fabricated by metal-assisted chemical etching of low-doped p-type crystalline silicon (c-Si) wafers followed by thermodiffusional doping with p- and n-type impurities. The free charge carrier concentration in SiNWs is determined from their ATR spectra fitted using a model of the anisotropic effective medium with free charge carriers. The obtained data on the free charge carrier concentrations in the range of 10(19)-10(20) cm(-3) are compared with the corresponding values obtained from the Raman spectra, which are analyzed by considering the Fano effect in SiNWs, and the results of both methods are used to evaluate the electrical properties of SiNWs. The proposed optical methods to probe the electrical properties of SiNWs are discussed in view of possible applications in nanoelectronics and thermoelectric devices.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Optical Diagnostics of Free Charge Carriers in Silicon Nanowire Arrays / Rodichkina, SP [et al.] // Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science. - 2020. - 10.1002/pssa.201900670
URI
https://www.doi.org/10.1002/pssa.201900670
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85079797586&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000509617100001
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/20228
Коллекции
Публикации