Publication:
Comparative analysis of silicon nanostructures by x-ray diffraction technique

Дата
2019
Авторы
Assilbayeva, R. B.
Kharin, A. Y.
Kargina, Y. V.
Timoshenko, V. Y.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Инженерно-физический институт биомедицины
Цель ИФИБ и стратегия развития – это подготовка высококвалифицированных кадров на базе передовых исследований и разработок новых перспективных методов и материалов в области инженерно-физической биомедицины. Занятие лидерских позиций в биомедицинских технологиях XXI века и внедрение их в образовательный процесс, что отвечает решению практикоориентированной задачи мирового уровня – диагностике и терапии на клеточном уровне социально-значимых заболеваний человека.
Выпуск журнала
Аннотация
© Published under licence by IOP Publishing Ltd. Silicon nanoparticles and nanowires prepared by using different methods were investigated by means of x-ray diffraction (XRD) technique. Broadening of the XRD lines of crystalline Si lattice allows us to estimate the mean size of nanoparticles. Silicon nanoparticles stored in aqueous suspensions for several days were found to decrease their sizes due to dissolution process. The kinetics of dissolution for different kinds of nanoparticles were found to be different. It was also shown that the most unstable nanoparticles (microporous silicon ones) could be protected from dissolution via interaction with the polysaccharide molecules (dextrane) into the solution.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Comparative analysis of silicon nanostructures by x-ray diffraction technique / Assilbayeva, R.B. [et al.] // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. - 2019. - 475. - № 1. - 10.1088/1757-899X/475/1/012010
URI
https://www.doi.org/10.1088/1757-899X/475/1/012010
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85062699584&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/16672
Коллекции
Публикации