Publication:
Practical Evaluation of Optocouplers TID-Hardness Research Method Using an X-ray Unit

Дата
2019
Авторы
Novikov, S. V.
Cherniak, M. E.
Mozhaev, R. K.
Boychenko, D. V.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 IEEE.The article describes an optoisolators radiation hardness testing method to the effects of absorbed dose using an x-ray unit. Technological issues and features of the research are highlighted.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Practical Evaluation of Optocouplers TID-Hardness Research Method Using an X-ray Unit / Novikov, S.V. [et al.] // 2019 IEEE 31st International Conference on Microelectronics, MIEL 2019 - Proceedings. - 2019. - P. 103-106. - 10.1109/MIEL.2019.8889615
URI
https://www.doi.org/10.1109/MIEL.2019.8889615
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85075335003&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000565455600019
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/18912
Коллекции
Публикации