Publication:
Methodical Approach for SEL Tolerance Confirmation of CMOS ICs at Low Temperatures

Дата
2021
Авторы
Novikova, M. M.
Novikov, A. A.
Pechenkin, A. A.
Lukashin, V. P.
Oblova, E. N.
Gritsaenko, A. R.
Protasov, D. E.
Tararaksin, A. S.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
An approach for SEL sensitivity estimation using heavy ions at room temperature and laser facilities both at room and subzero temperatures is proposed. The results of comparison approach approbation are also presented. © 2021 IEEE.
Описание
Ключевые слова
Heavy ions , Laser technique , Low temperature , SEL
Цитирование
Methodical Approach for SEL Tolerance Confirmation of CMOS ICs at Low Temperatures / Novikova, M.M. [et al.] // RADECS 2021 - European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems. - 2021. - 10.1109/RADECS53308.2021.9954467
Коллекции