Publication:
Radiation hardness estimation in various temperature conditions under radiation impact

Дата
2019
Авторы
Bakerenkov, A. S.
Rodin, A. S.
Felitsyn, V. A.
Pershenkov, V. S.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 Published under licence by IOP Publishing Ltd. The application of the ELDRS conversion model for numerical simulation of the radiation degradation of input bias current in widely used voltage comparator is presented. The recurrence relations for numerical simulations were obtained and used calculations of the estimation of the radiation response of LM111 input bias current in real operation temperature conditions of TechEdSat satellite.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Radiation hardness estimation in various temperature conditions under radiation impact / Bakerenkov, A.S. [et al.] // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. - 2019. - 498. - № 1. - 10.1088/1757-899X/498/1/012028
URI
https://www.doi.org/10.1088/1757-899X/498/1/012028
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85065563157&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000472784800028
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/17966
Коллекции
Публикации