Publication: ИСПОЛЬЗОВАНИЕ СТЕНДА «СОЧИ» ДЛЯ ПОДТВЕРЖДЕНИЯ НЕИЗМЕННОСТИ КРИСТАЛЛА МИКРОСХЕМ
Дата
2025
Авторы
Бобровский, Д. В.
Швецов-Шиловский, И. И.
Соловьев, С. А.
Чумаков, А. И.
Сыресин, Е. М.
Сливин, А. А.
Филатов, Г. А.
Journal Title
Безопасность информационных технологий
Journal ISSN
Volume Title
Безопасность Информационных Технологий
Издатель
НИЯУ МИФИ
Аннотация
В работе проводится анализ возможной области применения стенда «СОЧИ» на базе линейного ускорителя тяжелых ионов (ЛУТИ) для целей контроля неизменности топологии кристалла в целях обеспечения доверенности ЭКБ. Одна из характеристик интегральной схемы (ИС), определяющаяся топологией и проектными нормами – чувствительность к воздействию тяжелых заряженных частиц (ТЗЧ) по тиристорному эффекту и сбоям. Показано, что даже незначительные и не всегда заметные изменения топологии интегральной схемы могут приводить к резким изменениям параметров чувствительности по тиристорным эффектам (ТЭ), тогда как по одиночным сбоям изменения имеют место при изменении проектных норм и библиотечных элементов. Импульсный характер пучка на стенде «СОЧИ» не позволяют проводить испытания только очень чувствительных ЭКБ к воздействию ТЗЧ по тиристорному эффекту в количественном выражении (определение сечения эффекта), однако даже в этом случае возможно определять пороговое значение линейных потерь энергии возникновения ТЭ. Во всех других случаях параметры чувствительности ИС по одиночным радиационным эффектам могут быть определены.
Описание
Ключевые слова
Параметры чувствительности , Доверенность , Нуклотрон NICA , Одиночные радиационные эффекты , Импульсные пучки ионов , Безопасность информационных систем
Цитирование
Бобровский, Дмитрий В. и др. Использование стенда «СОЧИ» для подтверждения неизменности кристалла микросхем. Безопасность информационных технологий, [S.l.], т. 32, № 1, с. 46–53, 2025. ISSN 2074-7136. URL: https://bit.spels.ru/index.php/bit/article/view/174. DOI: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2025.1.02