Publication:
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ СТЕНДА «СОЧИ» ДЛЯ ПОДТВЕРЖДЕНИЯ НЕИЗМЕННОСТИ КРИСТАЛЛА МИКРОСХЕМ

Простая страница элемента
creativeworkseries.issn 2074-7128 (Print)
dc.contributor.authorБобровский, Д. В.
dc.contributor.authorШвецов-Шиловский, И. И.
dc.contributor.authorСоловьев, С. А.
dc.contributor.authorЧумаков, А. И.
dc.contributor.authorСыресин, Е. М.
dc.contributor.authorСливин, А. А.
dc.contributor.authorФилатов, Г. А.
dc.contributor.authorСоловьев, Сергей Александрович
dc.contributor.authorЧумаков, Александр Иннокентьевич
dc.contributor.authorБобровский, Дмитрий Владимирович
dc.contributor.authorШвецов-Шиловский, Иван Иванович
dc.date.accessioned2025-03-12T11:32:34Z
dc.date.available2025-03-12T11:32:34Z
dc.date.issued2025
dc.description.abstractВ работе проводится анализ возможной области применения стенда «СОЧИ» на базе линейного ускорителя тяжелых ионов (ЛУТИ) для целей контроля неизменности топологии кристалла в целях обеспечения доверенности ЭКБ. Одна из характеристик интегральной схемы (ИС), определяющаяся топологией и проектными нормами – чувствительность к воздействию тяжелых заряженных частиц (ТЗЧ) по тиристорному эффекту и сбоям. Показано, что даже незначительные и не всегда заметные изменения топологии интегральной схемы могут приводить к резким изменениям параметров чувствительности по тиристорным эффектам (ТЭ), тогда как по одиночным сбоям изменения имеют место при изменении проектных норм и библиотечных элементов. Импульсный характер пучка на стенде «СОЧИ» не позволяют проводить испытания только очень чувствительных ЭКБ к воздействию ТЗЧ по тиристорному эффекту в количественном выражении (определение сечения эффекта), однако даже в этом случае возможно определять пороговое значение линейных потерь энергии возникновения ТЭ. Во всех других случаях параметры чувствительности ИС по одиночным радиационным эффектам могут быть определены.
dc.identifier.citationБобровский, Дмитрий В. и др. Использование стенда «СОЧИ» для подтверждения неизменности кристалла микросхем. Безопасность информационных технологий, [S.l.], т. 32, № 1, с. 46–53, 2025. ISSN 2074-7136. URL: https://bit.spels.ru/index.php/bit/article/view/174. DOI: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2025.1.02
dc.identifier.doi10.26583/bit.2025.1.02
dc.identifier.urihttps://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/36660
dc.identifier.urihttps://bit.spels.ru/index.php/bit/article/view/1740/1445
dc.publisherНИЯУ МИФИ
dc.subjectПараметры чувствительности
dc.subjectДоверенность
dc.subjectНуклотрон NICA
dc.subjectОдиночные радиационные эффекты
dc.subjectИмпульсные пучки ионов
dc.subjectБезопасность информационных систем
dc.titleИСПОЛЬЗОВАНИЕ СТЕНДА «СОЧИ» ДЛЯ ПОДТВЕРЖДЕНИЯ НЕИЗМЕННОСТИ КРИСТАЛЛА МИКРОСХЕМ
dc.title.alternativeНАУЧНЫЕ СТАТЬИ
dc.typeArticleru
dspace.entity.typePublication
relation.isAuthorOfPublication26a341cd-597f-4fc4-88ba-a0bbd4b9acca
relation.isAuthorOfPublication43b0636e-accc-40f9-b290-f89ddec0684e
relation.isAuthorOfPublicationedfdd9b8-f410-486b-a1a4-4413ae55608f
relation.isAuthorOfPublicationbbd56715-26ac-4f6a-aefd-13c9cc75fd91
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery26a341cd-597f-4fc4-88ba-a0bbd4b9acca
relation.isJournalIssueOfPublication3960db59-8036-483c-94b8-03c84d8a7672
relation.isJournalIssueOfPublication.latestForDiscovery3960db59-8036-483c-94b8-03c84d8a7672
relation.isJournalOfPublication3b9ae913-eaeb-4d29-a767-7f6ca8a0e066
relation.isOrgUnitOfPublication543ffddb-d115-4466-be75-83b0f2c5a473
relation.isOrgUnitOfPublication.latestForDiscovery543ffddb-d115-4466-be75-83b0f2c5a473
Файлы
Original bundle
Теперь показываю 1 - 1 из 1
Уменьшенное изображение
Name:
1740-2730-1-PB.pdf
Size:
414.25 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download
License bundle
Теперь показываю 1 - 1 из 1
Уменьшенное изображение
Name:
license.txt
Size:
3.45 KB
Format:
Item-specific license agreed to upon submission
Description:
Download
Коллекции