Publication:
Radiation Hardness Evaluation of LEDs Based on InGaN, GaN and AlInGaP Heterostructures

Дата
2019
Авторы
Ukolov, D. S.
Chirkov, N. A.
Mozhaev, R. K.
Pechenkin, A. A.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 IEEE.The radiation hardness results of light emitting diodes (LED) in green, blue and red regions of the spectrum and in white, based on InGaN, GaN and AlInGaP structures are presented. The technical aspects of monitoring parameters during exposure are described, and LEDs response to various radiation exposures are given.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Radiation Hardness Evaluation of LEDs Based on InGaN, GaN and AlInGaP Heterostructures / Ukolov, D.S. [et al.] // 2019 IEEE 31st International Conference on Microelectronics, MIEL 2019 - Proceedings. - 2019. - P. 197-200. - 10.1109/MIEL.2019.8889651
URI
https://www.doi.org/10.1109/MIEL.2019.8889651
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85075401356&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000565455600042
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/18898
Коллекции
Публикации