Publication:
X-ray Based Electronic Components Authentication Methods to Counterfeit Detection

Дата
2021
Авторы
Shirin, A. O.
Taiibov, F. F.
Simakhin, E. A.
Kessarinskiy, L. N.
Koval, K. A.
Artamonov, A. S.
Durakovskiy, A. P.
Показать ещё 2
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт интеллектуальных кибернетических систем
Цель ИИКС и стратегия развития - это подготовка кадров, способных противостоять современным угрозам и вызовам, обладающих знаниями и компетенциями в области кибернетики, информационной и финансовой безопасности для решения задач разработки базового программного обеспечения, повышения защищенности критически важных информационных систем и противодействия отмыванию денег, полученных преступным путем, и финансированию терроризма.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2021 IEEE.The problem of counterfeit products, electronic and electromechanical products is presented. One of the most effective non-destructive electronics analyses is x-ray checking, that is presented in this paper.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
X-ray Based Electronic Components Authentication Methods to Counterfeit Detection / Shirin, A.O. [et al.] // Proceedings of the International Conference on Microelectronics, ICM. - 2021. - 2021-September. - P. 119-121. - 10.1109/MIEL52794.2021.9569042
URI
https://www.doi.org/10.1109/MIEL52794.2021.9569042
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85118435311&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/24918
Коллекции
Публикации