Персона:
Коваль, Кирилл Александрович

Profile Picture
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Статус
Фамилия
Коваль
Имя
Кирилл Александрович
Имя

Фильтры

20213
3
3
Сброс фильтров

Настройки

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 3 из 3
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Electronic Components Authentication Methods Based on Visual and Chemical Package Analysis
    (2021) Shirin, A. O.; Koval, K. A.; Taiibov, F. F.; Kameneva, A. S.; Kessarinskiy, L. N.; Durakovskiy, A. P.; Коваль, Кирилл Александрович; Кессаринский, Леонид Николаевич; Дураковский, Анатолий Петрович
    © 2021 IEEE.The work is devoted to counterfeiting electronic components. The results of the use of visual analysis of the surface and marking are presented. Only the use of a set of methods allows you to give a reliable result. The optimal set of methods is determined by the qualifications of the researcher.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Precision Masa Control Based Authentication Methods of Electronic Components to Counterfeit Detection
    (2021) Shirin, A. O.; Taiibov, F. F.; Kameneva, A. S.; Kessarinskiy, L. N.; Koval, K. A.; Boychenko, D. V.; Кессаринский, Леонид Николаевич; Коваль, Кирилл Александрович; Бойченко, Дмитрий Владимирович
    © 2021 IEEE.The article is devoted to the problem of identifying counterfeit electronic components. The article presents the results of complex test methods such as weighing and X-ray structural analysis. It is shown that the same counterfeit defects can be detected in different ways. But the best performance and reliability of the results are provided by a set of methods.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    X-ray Based Electronic Components Authentication Methods to Counterfeit Detection
    (2021) Shirin, A. O.; Taiibov, F. F.; Simakhin, E. A.; Kessarinskiy, L. N.; Koval, K. A.; Artamonov, A. S.; Durakovskiy, A. P.; Симахин, Егор Андреевич; Кессаринский, Леонид Николаевич; Коваль, Кирилл Александрович; Артамонов, Алексей Сергеевич; Дураковский, Анатолий Петрович
    © 2021 IEEE.The problem of counterfeit products, electronic and electromechanical products is presented. One of the most effective non-destructive electronics analyses is x-ray checking, that is presented in this paper.