Publication:
Nonstable Latchups in CMOS ICs Under Pulsed Laser Irradiation

Дата
2020
Авторы
Shvetsov-Shilovskiy, I. I.
Chumakov, A. I.
Pechenkin, A. A.
Bobrovsky, D. V.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
This article concerns experimental and simulation results on nonstable latchups (SLs) in CMOS integrated circuits (ICs) under pulsed laser irradiation. Different transient responses in elements of the p-n-p-n structure and irregular ionization distribution on the IC surface are the main reasons for non-SLs. Radiation experimental test results are presented as well as a discussion of non-SL mechanisms.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Nonstable Latchups in CMOS ICs Under Pulsed Laser Irradiation / Shvetsov-Shilovskiy, II [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. - 2020. - 67. - № 7. - P. 1540-1546. - 10.1109/TNS.2020.3001169
URI
https://www.doi.org/10.1109/TNS.2020.3001169
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85088857545&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000550669800041
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/22106
Коллекции
Публикации