Publication: Анализ влияния режимов лазерного облучения поверхности при диагностике накопления изотопов водорода
Дата
2024
Авторы
Ефимов, Н. Е.
Синельников, Д. Н.
Гришаев, М. В.
Гаспарян, Ю. М.
Ефимов, В. С.
Крат, С. А.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Аннотация
В работе проведено сравнение сигналов лазерно-ассистированной масс-спектрометрии для двух длительностей лазерных импульсов (15 нс и 80 пс) на примере дейтерированных вольфрамовых пленок и образцов титан−ванадиевого сплава. Представлена методика подготовки насыщенных дейтерием образцов, обеспечивающая хорошо повторяющийся во времени выход дейтерия при нескольких последовательных выстрелах лазером, что может быть использовано для юстировки диагностической системы. Получена экспериментальная зависимость интегрального выхода дейтерия из исследуемых материалов от плотности энергии в импульсе. Продемонстрирована высокая чувствительность методики, а также слабая зависимость от длительности импульса лазерного излучения. Отмечено значительное изменение концентрации дейтерия в приповерхностном слое вольфрамовой пленки в ходе контакта с атмосферой.
Описание
Ключевые слова
пленки , водород , анализ состава поверхности , лазер , управляемый термоядерный синтез
Цитирование
Анализ влияния режимов лазерного облучения поверхности при диагностике накопления изотопов водорода [Text]. / Ефимов Н. Е. [et al.] // Ядерная физика и инжиниринг. - 2024. - 15, 4. - С. 324-331