Персона: Синельников, Дмитрий Николаевич
Загружается...
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Институт лазерных и плазменных технологий
Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.
Статус
Фамилия
Синельников
Имя
Дмитрий Николаевич
Имя
48 results
Результаты поиска
Теперь показываю 1 - 10 из 48
- ПубликацияОткрытый доступTungsten nano-fuzz surface degradation under ion beam(НИЯУ МИФИ, 2015) Sinelnikov, D.; Kurnaev, V.; Kolodko, D.; Solovev, N.; Колодко, Добрыня Вячеславич; Синельников, Дмитрий НиколаевичTungsten is the main candidate for plasma facing material in the divertor zone of a thermonuclear reactor due to high melting temperature, high thermal conductivity and low sputtering erosion yield. However, its surface can be modified by "fuzz" nanostructure, which can form in linear simulators and tokamaks [1] under helium irradiation fluence as high as ~1025m-2and sample temperature in the range of 1000-2000 K. Such structure significantly changes the plasma-wall interaction balance, which results in higher probability of unipolar arc ignition. In the case of arcing, erosion yield sharply increases, especially if arcing takes place on a fuzzy surface [2]. Tungsten fuzz is also characterized by high pre-breakdown current intensity, which could indicate the initial stage of unipolar arc ignition [3]. Prebreakdown currents are usually initiated by field emission due to amplification of electric field on sharp cathode relief. So, an investigation of emission properties dependence on surface relief during fuzz formation and destruction seems to be important for the prediction of unipolar arcing.
- ПубликацияТолько метаданныеAnnealing effect on deuterium retention in W-Cr-Y alloy(2024) Wang, Y.; Harutyunyan, Z.; Gasparyan, Y.; Ogorodnikova, O.; Sinelnikov, D.; Efimov, N.; Umerenkova, A.; Grishaev, M.; Арутюнян, Зорий Робертович; Гаспарян, Юрий Микаэлович; Огородникова, Ольга Вячеславовна; Синельников, Дмитрий Николаевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Умеренкова, Анастасия Сергеевна; Гришаев, Максим Валерьевич
- ПубликацияОткрытый доступLEIS ANALYSIS OF THE W SURFACE DURING WATER VAPOR ADSORPTION(НИЯУ МИФИ, 2017) Mamedov, N. V.; Kurnaev, V. A.; Sinelnikov, D. N.; Kolodko, D. V.; Sorokin, I. A.; Мамедов, Никита Вадимович; Колодко, Добрыня Вячеславич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Сорокин, Иван АлександровичThe adsorption of water on the surface is one of the main problems in vacuum technology. Since water is a good adsorbent, its adsorption is the reason that prevents the fast pumping of vacuum systems up to ultra-high vacuum. In addition, water vapor adsorption on metal surfaces during plasma surface interaction is a problem [1]. Singly scattered and recoil ions could form narrow peaks in energy spectra and provide information about atomic composition of the first atomic layer giving information about structure and composition of the surface and very sensitivity to the first layer of atoms [2 -5]. It was also shown [6] that the thickness of light element thin layers on the heavy substrate can be analyzed with good depth resolution (~0,3nm) due to scattering of hydrogen ions with keV energies. Application of ion scattering spectroscopy at pressures up to several mTorr is presented in [7, 8]. In this work experimental results of low energy ion spectroscopy (LEIS) of W samples during water vapor adsorption are presented.
- ПубликацияТолько метаданныеAnalysis of Craters in Tungsten Films Irradiated with Picosecond Laser Pulses for Laser-Assisted Surface Diagnostics(2024) Efimov, N. E.; Sinelnikov, D. N.; Grishaev, M. V.; Gasparyan, Y. M.; Krat, S. A.; Sorokin, I. A.; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Гаспарян, Юрий Микаэлович; Крат, Степан Андреевич; Сорокин, Иван Александрович
- ПубликацияТолько метаданныеMEPhIST-0 Tokamak for Education and Research(2023) Krat, S.; Prishvitsyn, A.; Alieva, A.; Vinitskiy, E.; Ulasevich, D.; Izarova, A.; Podolyako, F.; Belov, A.; Chernenko, A.; Sinelnikov, D.; Bulgadaryan, D.; Sorokin, I.; Gubskiy, K.; Kaziev, A.; Kolodko, D.; Tumarkin, V.; Isakova, A.; Grunin, A.; Begrambekov, L.; Melnikov, A.; Крат, Степан Андреевич; Пришвицын, Александр Сергеевич; Виницкий, Егор Александрович; Уласевич, Даниил Львович; Изарова, Анастасия Дмитриевна; Подоляко, Федор Сергеевич; Белов, Андрей Сергеевич; Черненко, Андрей Сергеевич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Сорокин, Иван Александрович; Губский, Константин Леонидович; Казиев, Андрей Викторович; Колодко, Добрыня Вячеславич; Тумаркин, Владимир Александрович; Беграмбеков, Леон Богданович; Мельников, Александр Владимирович; Исакова, Анастасия Сергеевна
- ПубликацияТолько метаданныеAnalysis of the Influence of Laser Surface Irradiation Regimes in the Diagnostics of Hydrogen Isotope Retention(2023) Efimov, N. E.; Sinelnikov, D. N.; Grishaev, M. V.; Gasparyan, Y. M.; Efimov, V. S.; Krat, S.; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Гаспарян, Юрий Микаэлович; Ефимов, Виталий Сергеевич; Крат, Степан Андреевич
- ПубликацияОткрытый доступESTIMATES OF He+ SCATTERED FROM THE SURFACE SURVIVAL PROBABILITY USING BINARY COLLISIONS CODES(НИЯУ МИФИ, 2019) Mamedo, N. V.; Kurnaev, V. A.; Sinelnikov, D. N.; Mamedov, I. M.; Синельников, Дмитрий Николаевич; Мамедов, Никита ВадимовичLow-energy (1-20 keV) ion scattering spectroscopy is the widespread method of surface analysis [1,2]. The surface layer composition can be reconstructed from narrow peaks in the energy spectra of the scattered inert gas ions and recoil ions [3]. The main advantage of the surface analysis using inert gas ions is the high sensitivity to the first layer of surface atoms. This is due to the low initial energy of the ions (and therefore small ion penetration depth) and the high neutralization probability of the reflected ions, which increases with the penetration depth of the incident particle into the solid [3]. However, for quantitative surface analysis, it is extremely important to determine the neutralization probability (or the probability of ion survival), since this method usually detects reflected ions only.
- ПубликацияТолько метаданныеTungsten peak broadening in LEIS: Origins and challenges for quantitative analysis(2025) Efimov, N.; Sinelnikov, D.; Grishaev, M.; Nikitin, I.; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Никитин, Иван Андреевич
- ПубликацияОткрытый доступОСОБЕННОСТИ ГЕНЕРАЦИИ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ И ФОРМИРОВАНИЯ LIBS-СПЕКТРОВ ДЛЯ МОНИТОРИНГА ПОВЕРХНОСТЕЙ ТЯР(НИЯУ МИФИ, 2023) ВОВЧЕНКО, Е. Д.; ГРИШАЕВ, М. В.; ЕФИМОВ, Н. Е.; МЕЛЕХОВ, А. П.; СИНЕЛЬНИКОВ, Д. Н.; ГАСПАРЯН, Ю. М.; Синельников, Дмитрий Николаевич; Вовченко, Евгений Дмитриевич; Мелехов, Андрей Петрович; Гришаев, Максим Валерьевич; Ефимов, Никита ЕвгеньевичКомбинация лазерной плазмы и оптической эмиссионной спектроскопии лежит в основе хорошо известного метода аналитического исследования материалов – лазерно-индуцированной спектроскопии пробоя (LIBS). Благодаря своим преимуществам (удаленный быстрый многоэлементный анализ с пространственным разрешением по глубине и площади поверхности, отсутствие пробоподготовки, возможность анализа in situ) этот метод активно развивается и имеет широкий спектр применений в науке и промышленности [1, 2].
- ПубликацияОткрытый доступLEIS CALCULATOR ДЛЯ ИНТЕРПРЕТАЦИИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ СПЕКТРОВ РАССЕЯННЫХ НА ТВЁРДОМ ТЕЛЕ ИОНОВ(2023) Никитин, И. А.; Синельников, Д. Н.; Ефимов, Н. Е.; Гришаев, М. В.; Гришаев, Максим Валерьевич; Никитин, Иван Андреевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий НиколаевичПрограмма предназначена для элементного анализа образцов на основе энергетических спектров, полученных методом спектроскопии рассеяния и выбивания ионов. В качестве входных параметров вводятся энергия диагностического пучка, атомный номер налетающей частицы и предполагаемых частиц поверхности, а также геометрия рассеяния. Программа рассчитывает положения пиков, соответствующих элементам поверхности, на энергетическом спектре, а также сечения взаимодействия на основе экранированных кулоновских потенциалов (Kr-C, TFM, ZBL), необходимых для определения концентраций элементов. Область применения: научные и производственные ионно-пучковые установки анализа поверхности с энергиями частиц от 100 эВ до 100 кэВ. Тип ЭВМ: IBM PC - совмест. ПК; ОС: Windows ХР/7/10/11.