Персона:
Гришаев, Максим Валерьевич

Организационные подразделения

Организационная единица

Институт лазерных и плазменных технологий

Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.

Фамилия

Гришаев

Имя

Максим Валерьевич

Полная страница элемента

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 10 из 26

Только метаданные
Annealing effect on deuterium retention in W-Cr-Y alloy
(2024) Wang, Y.; Harutyunyan, Z.; Gasparyan, Y.; Ogorodnikova, O.; Sinelnikov, D.; Efimov, N.; Umerenkova, A.; Grishaev, M.; Арутюнян, Зорий Робертович; Гаспарян, Юрий Микаэлович; Огородникова, Ольга Вячеславовна; Синельников, Дмитрий Николаевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Умеренкова, Анастасия Сергеевна; Гришаев, Максим Валерьевич
Только метаданные
Analysis of Craters in Tungsten Films Irradiated with Picosecond Laser Pulses for Laser-Assisted Surface Diagnostics
(2024) Efimov, N. E.; Sinelnikov, D. N.; Grishaev, M. V.; Gasparyan, Y. M.; Krat, S. A.; Sorokin, I. A.; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Гаспарян, Юрий Микаэлович; Крат, Степан Андреевич; Сорокин, Иван Александрович
Только метаданные
Analysis of the Influence of Laser Surface Irradiation Regimes in the Diagnostics of Hydrogen Isotope Retention
(2023) Efimov, N. E.; Sinelnikov, D. N.; Grishaev, M. V.; Gasparyan, Y. M.; Efimov, V. S.; Krat, S.; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Гаспарян, Юрий Микаэлович; Ефимов, Виталий Сергеевич; Крат, Степан Андреевич
Только метаданные
Tungsten peak broadening in LEIS: Origins and challenges for quantitative analysis
(2025) Efimov, N.; Sinelnikov, D.; Grishaev, M.; Nikitin, I.; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Никитин, Иван Андреевич
Открытый доступ
ОСОБЕННОСТИ ГЕНЕРАЦИИ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ И ФОРМИРОВАНИЯ LIBS-СПЕКТРОВ ДЛЯ МОНИТОРИНГА ПОВЕРХНОСТЕЙ ТЯР
(НИЯУ МИФИ, 2023) ВОВЧЕНКО, Е. Д.; ГРИШАЕВ, М. В.; ЕФИМОВ, Н. Е.; МЕЛЕХОВ, А. П.; СИНЕЛЬНИКОВ, Д. Н.; ГАСПАРЯН, Ю. М.; Синельников, Дмитрий Николаевич; Вовченко, Евгений Дмитриевич; Мелехов, Андрей Петрович; Гришаев, Максим Валерьевич; Ефимов, Никита Евгеньевич
Комбинация лазерной плазмы и оптической эмиссионной спектроскопии лежит в основе хорошо известного метода аналитического исследования материалов – лазерно-индуцированной спектроскопии пробоя (LIBS). Благодаря своим преимуществам (удаленный быстрый многоэлементный анализ с пространственным разрешением по глубине и площади поверхности, отсутствие пробоподготовки, возможность анализа in situ) этот метод активно развивается и имеет широкий спектр применений в науке и промышленности [1, 2].
Открытый доступ
LEIS CALCULATOR ДЛЯ ИНТЕРПРЕТАЦИИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ СПЕКТРОВ РАССЕЯННЫХ НА ТВЁРДОМ ТЕЛЕ ИОНОВ
(2023) Никитин, И. А.; Синельников, Д. Н.; Ефимов, Н. Е.; Гришаев, М. В.; Гришаев, Максим Валерьевич; Никитин, Иван Андреевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич
Программа предназначена для элементного анализа образцов на основе энергетических спектров, полученных методом спектроскопии рассеяния и выбивания ионов. В качестве входных параметров вводятся энергия диагностического пучка, атомный номер налетающей частицы и предполагаемых частиц поверхности, а также геометрия рассеяния. Программа рассчитывает положения пиков, соответствующих элементам поверхности, на энергетическом спектре, а также сечения взаимодействия на основе экранированных кулоновских потенциалов (Kr-C, TFM, ZBL), необходимых для определения концентраций элементов. Область применения: научные и производственные ионно-пучковые установки анализа поверхности с энергиями частиц от 100 эВ до 100 кэВ. Тип ЭВМ: IBM PC - совмест. ПК; ОС: Windows ХР/7/10/11.
Только метаданные
On the possibility of quantitative W-Cr-Y analysis by grazing ion-surface scattering spectroscopy
(2024) Efimov, N. E.; Sinelnikov, D.; Grishaev, M.; Nikitin, I.; Wang, Y.; Harutyunyan, Z.; Gasparyan, Y.; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Никитин, Иван Андреевич; Арутюнян, Зорий Робертович; Гаспарян, Юрий Микаэлович
Открытый доступ
TIME-OF-FLIGHT ANALYSIS OF IONS FROM LASER-INDUCED PLASMA
(НИЯУ МИФИ, 2023) Grishaev, M. V.; Efimov, N. E.; Sinelnikov, D. N.; Nikitin, I. A.; Gasparyan, Y. M.; Vovchenko, E. D.; Вовченко, Евгений Дмитриевич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Гаспарян, Юрий Микаэлович; Никитин, Иван Андреевич
One of the most detrimental phenomena in fusion research is the interaction of plasma with a surface of a first wall and in-chamber elements. It causes erosion of the plasma-facing components (PFC), which in turn results in a degradation of plasma parameters due to transport of erosion products into the hot plasma. On the other hand, these processes cause re-deposition of the eroded material together with fuel components (deuterium and tritium). This is the dominant mechanism for fuel retention in PFC.
Только метаданные
Laser Diagnostics of Content of Hydrogen Isotopes in the Globus-M2 Tokamak Wall
(2024) Razdobarin, A. G.; Medvedev, O. S.; Bukreev, I. M.; Elets, D. I.; Grishaev, M. V.; Gasparyan, Y. M.; Медведев, Олег Сергеевич; Елец, Денис Игоревич; Гришаев, Максим Валерьевич; Гаспарян, Юрий Микаэлович
Открытый доступ
РАЗВИТИЕ LIBS ДЛЯ АНАЛИЗА СОСТАВА ПОВЕРХНОСТИ ПЕРВОЙ СТЕНКИ ТОКАМАКА
(НИЯУ МИФИ, 2024) ВОВЧЕНКО, Е. Д.; ГАСПАРЯН, Ю. М.; ГРИШАЕВ, М. В.; ЕФИМОВ, Н. Е.; СИНЕЛЬНИКОВ, Д. Н.; Гришаев, Максим Валерьевич; Гаспарян, Юрий Микаэлович; Вовченко, Евгений Дмитриевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич
Лазерно-индуцированная искровая спектроскопия (LIBS) – хорошо известный метод аналитического исследования с широким спектром применений в науке и промышленности, позволяющий получать in situ информацию об элементном составе материалов с пространственным разрешением по глубине и площади поверхности [1, 2]. Интерес к применению LIBS для оперативного анализа поверхности обращенных к плазме материалов (PFM), расположенных внутри камеры токамака, основан на возможности проведения таких исследований удаленно и без контакта с атмосферой, в отличие от таких хорошо развитых диагностик как ВИМС, ТДС, ЭДА и др.