Персона:
Гришаев, Максим Валерьевич

Организационные подразделения

Организационная единица

Институт лазерных и плазменных технологий

Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.

Фамилия

Гришаев

Имя

Максим Валерьевич

Полная страница элемента

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 10 из 21

Только метаданные
Tungsten peak broadening in LEIS: Origins and challenges for quantitative analysis
(2025) Efimov, N.; Sinelnikov, D.; Grishaev, M.; Nikitin, I.; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Никитин, Иван Андреевич
Открытый доступ
ОСОБЕННОСТИ ГЕНЕРАЦИИ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ И ФОРМИРОВАНИЯ LIBS-СПЕКТРОВ ДЛЯ МОНИТОРИНГА ПОВЕРХНОСТЕЙ ТЯР
(НИЯУ МИФИ, 2023) ВОВЧЕНКО, Е. Д.; ГРИШАЕВ, М. В.; ЕФИМОВ, Н. Е.; МЕЛЕХОВ, А. П.; СИНЕЛЬНИКОВ, Д. Н.; ГАСПАРЯН, Ю. М.; Синельников, Дмитрий Николаевич; Вовченко, Евгений Дмитриевич; Мелехов, Андрей Петрович; Гришаев, Максим Валерьевич; Ефимов, Никита Евгеньевич
Комбинация лазерной плазмы и оптической эмиссионной спектроскопии лежит в основе хорошо известного метода аналитического исследования материалов – лазерно-индуцированной спектроскопии пробоя (LIBS). Благодаря своим преимуществам (удаленный быстрый многоэлементный анализ с пространственным разрешением по глубине и площади поверхности, отсутствие пробоподготовки, возможность анализа in situ) этот метод активно развивается и имеет широкий спектр применений в науке и промышленности [1, 2].
Открытый доступ
LEIS CALCULATOR ДЛЯ ИНТЕРПРЕТАЦИИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ СПЕКТРОВ РАССЕЯННЫХ НА ТВЁРДОМ ТЕЛЕ ИОНОВ
(2023) Никитин, И. А.; Синельников, Д. Н.; Ефимов, Н. Е.; Гришаев, М. В.; Гришаев, Максим Валерьевич; Никитин, Иван Андреевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич
Программа предназначена для элементного анализа образцов на основе энергетических спектров, полученных методом спектроскопии рассеяния и выбивания ионов. В качестве входных параметров вводятся энергия диагностического пучка, атомный номер налетающей частицы и предполагаемых частиц поверхности, а также геометрия рассеяния. Программа рассчитывает положения пиков, соответствующих элементам поверхности, на энергетическом спектре, а также сечения взаимодействия на основе экранированных кулоновских потенциалов (Kr-C, TFM, ZBL), необходимых для определения концентраций элементов. Область применения: научные и производственные ионно-пучковые установки анализа поверхности с энергиями частиц от 100 эВ до 100 кэВ. Тип ЭВМ: IBM PC - совмест. ПК; ОС: Windows ХР/7/10/11.
Только метаданные
On the possibility of quantitative W-Cr-Y analysis by grazing ion-surface scattering spectroscopy
(2024) Efimov, N. E.; Sinelnikov, D.; Grishaev, M.; Nikitin, I.; Wang, Y.; Harutyunyan, Z.; Gasparyan, Y.; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Никитин, Иван Андреевич; Арутюнян, Зорий Робертович; Гаспарян, Юрий Микаэлович
Открытый доступ
ПРОГРАММА ISINCA ДЛЯ АНАЛИЗА РЕЗУЛЬТАТОВ МОНТЕ-КАРЛО МОДЕЛИРОВАНИЯ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ АТОМОВ С ПОВЕРХНОСТЬЮ ТВЁРДОГО ТЕЛА
(НИЯУ МИФИ, 2024) Никитин, И. А.; Синельников, Д. Н.; Гришаев, М. В.; Ефимов, Н. Е.; Ефимов, Никита Евгеньевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Никитин, Иван Андреевич; Синельников, Дмитрий Николаевич
Программа «ISInCa.jar» предназначена для формирования интегральных (коэффициенты рассеяния, распыления, внедрения и прохождения) и дифференциальных (угловых и энергетических распределений и карт) характеристик для произвольных углов регистрации и сортов частиц на основе результатов Монте-Карло расчётов взаимодействия атомов с поверхностью твёрдого тела в приближении последовательных парных соударений. Программа осуществляет расчёт коэффициентов и спектров, их визуализацию и сохранение сформированных данных в текстовые файлы. Область применения – научные и технологические ионно-пучковые и плазменные установки с энергиями частиц от 100 эВ до 100 кэВ. Работа выполнена при поддержке Министерство науки и высшего образования Российской Федерации проект №075-03-2024-096 от 18.01.2024. Тип ЭВМ: IBM PC совместимый компьютер; ОС: MS Windows XP, 7, 10, 11; Linux Ubuntu (LTS версия (18.04/20.04/22.04/24.04)), Linux (Debian, CentOS, Astra Linux, RedOS, Arch, Gentoo).
Открытый доступ
TIME-OF-FLIGHT ANALYSIS OF IONS FROM LASER-INDUCED PLASMA
(НИЯУ МИФИ, 2023) Grishaev, M. V.; Efimov, N. E.; Sinelnikov, D. N.; Nikitin, I. A.; Gasparyan, Y. M.; Vovchenko, E. D.; Вовченко, Евгений Дмитриевич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Гаспарян, Юрий Микаэлович; Никитин, Иван Андреевич
One of the most detrimental phenomena in fusion research is the interaction of plasma with a surface of a first wall and in-chamber elements. It causes erosion of the plasma-facing components (PFC), which in turn results in a degradation of plasma parameters due to transport of erosion products into the hot plasma. On the other hand, these processes cause re-deposition of the eroded material together with fuel components (deuterium and tritium). This is the dominant mechanism for fuel retention in PFC.
Только метаданные
Laser Diagnostics of Content of Hydrogen Isotopes in the Globus-M2 Tokamak Wall
(2024) Razdobarin, A. G.; Medvedev, O. S.; Bukreev, I. M.; Elets, D. I.; Grishaev, M. V.; Gasparyan, Y. M.; Медведев, Олег Сергеевич; Елец, Денис Игоревич; Гришаев, Максим Валерьевич; Гаспарян, Юрий Микаэлович
Открытый доступ
РАЗВИТИЕ LIBS ДЛЯ АНАЛИЗА СОСТАВА ПОВЕРХНОСТИ ПЕРВОЙ СТЕНКИ ТОКАМАКА
(НИЯУ МИФИ, 2024) ВОВЧЕНКО, Е. Д.; ГАСПАРЯН, Ю. М.; ГРИШАЕВ, М. В.; ЕФИМОВ, Н. Е.; СИНЕЛЬНИКОВ, Д. Н.; Гришаев, Максим Валерьевич; Гаспарян, Юрий Микаэлович; Вовченко, Евгений Дмитриевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий Николаевич
Лазерно-индуцированная искровая спектроскопия (LIBS) – хорошо известный метод аналитического исследования с широким спектром применений в науке и промышленности, позволяющий получать in situ информацию об элементном составе материалов с пространственным разрешением по глубине и площади поверхности [1, 2]. Интерес к применению LIBS для оперативного анализа поверхности обращенных к плазме материалов (PFM), расположенных внутри камеры токамака, основан на возможности проведения таких исследований удаленно и без контакта с атмосферой, в отличие от таких хорошо развитых диагностик как ВИМС, ТДС, ЭДА и др.
Открытый доступ
О ВОЗМОЖНОСТИ КОЛИЧЕСТВЕННОГО АНАЛИЗА КОНЦЕНТРАЦИЙ ЭЛЕМЕНТОВ В ОБРАЩЕННЫХ К ПЛАЗМЕ МАТЕРИАЛАХ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ МАЛОУГЛОВОГО LEIS
(НИЯУ МИФИ, 2023) НИКИТИН, И. А.; СИНЕЛЬНИКОВ, Д. Н.; ЕФИМОВ, Н. Е.; ГРИШАЕВ, М. В.; Никитин, Иван Андреевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Гришаев, Максим Валерьевич
Одним из кандидатных материалов для диверторов будущих термоядерных установок является сплав W-Cr-Y, именуемый smart alloy (умный сплав). При нагреве такого материала до температур ~1000 K поверхностный слой обогащается хромом, что препятствует образованию оксида вольфрама в случае достаточного количества кислорода в окружающей среде. Определение соотношений вольфрама и хрома в тонких поверхностных слоях может проводиться с использованием спектроскопии рассеяния ионов низких энергий (LEIS). Этот метод позволяет анализировать приповерхностные слои глубиной до 10 нм. На установке «Большой масс-монохроматор МИФИ» реализован LEIS с углом рассеяния 32 ̊ и энергией первичных ионов от 3 до 18 кэВ. Использование LEIS с малыми углами рассеяния позволяет детектировать не только рассеянные, но и упруговыбитые частицы и в то же время повышает чувствительность этой методики.
Открытый доступ
ОТРАЖЕНИЕ ПРОТОНОВ ОТ СЛОИСТО НЕОДНОРОДНЫХ ТВЕРДЫХ ТЕЛ
(НИЯУ МИФИ, 2023) Лобанова, Л. Г.; Афанасьев, В. П.; Гришаев, М. В.; Ефимов, Н. Е.; Никитин, И. А.; Синельников, Д. Н.; Синельников, Дмитрий Николаевич; Никитин, Иван Андреевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Гришаев, Максим Валерьевич
Calculation method of reflected from layered inhomogeneous solids light ions density fluxes is constructed. The method is based on analytically calculated and experimentally received reflection functions from homogeneous solids. Transmission function is calculated in Fokker-Plank approximation. Analytical results are verified on a base on comparison with experimental results.