Publication:
Application of effective LET approach for modern CMOS devices

Дата
2019
Авторы
Akhmetov, A. O.
Bobrovsky, D. V.
Smolin, A. A.
Chumakov, A. I.
Sogoyan, A. V.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 IEEE.Applicability of effective LET concept to SEE testing of modern CMOS devices was investigated. Heavy ion irradiations of four CMOS ICs were performed for a wide range of LET values and angles of incidence.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Application of effective LET approach for modern CMOS devices / Akhmetov, A.O. [et al.] // 2019 19th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2019. - 2019. - 10.1109/RADECS47380.2019.9745667
URI
https://www.doi.org/10.1109/RADECS47380.2019.9745667
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85128539340&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000848160100062
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/19646
Коллекции
Публикации