Publication:
Latch-up in Integrated Circuits under Single and Periodic Electrical Overstress

Дата
2022
Авторы
Shemonaev, A.
Anikin, A.
Epifantsev, K.
Skorobogatov, P.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2022 IEEE.This paper describes the results of sensitivity test to latch-up of several types of ICs (SRAM, EEPROM memory, ADC, microcontroller) caused by single and multiple electrical overstresses. It was shown, that electrical strike with a high-repetition rate increases the sensitivity and vulnerability of ICs to latch-up. The article describes some aspects of the test procedure, which may affect on IC's sensitivity results.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Latch-up in Integrated Circuits under Single and Periodic Electrical Overstress / Shemonaev, A. [et al.] // Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies, MWENT 2022 - Proceedings. - 2022. - 10.1109/MWENT55238.2022.9802266
URI
https://www.doi.org/10.1109/MWENT55238.2022.9802266
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85134038775&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/28128
Коллекции
Публикации