Publication:
Multiple-trapping formalism for the description of charge transport in disordered organic semiconductors with correlated energy disorder

Дата
2019
Авторы
Nikitenko, V. R.
Saunina, A. Yu.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 Published under licence by IOP Publishing Ltd. An applicability of transport level concept, as well as multiple trapping formalism for the description of charge transport in disordered organics with correlated disorder is supported by analytic modeling of temperature and field dependence of mobility. Results of this modeling are in good agreement with well-known results of Monte-Carlo simulations. The reasons for the description of transport by the multiple trapping model and the respective parameters are discussed.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Nikitenko, V. R. Multiple-trapping formalism for the description of charge transport in disordered organic semiconductors with correlated energy disorder / Nikitenko, V.R., Saunina, A.Yu. // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. - 2019. - 498. - № 1. - 10.1088/1757-899X/498/1/012045
URI
https://www.doi.org/10.1088/1757-899X/498/1/012045
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85065568536&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000472784800045
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/17962
Коллекции
Публикации