Publication:
Leakage Currents Automated Monitoring System for Memory ICs under Dose Exposure

Дата
2021
Авторы
Gracheva, A. A.
Shvetsov-Shiovsky, I. I.
Shmakov, S. B.
Petrov, A. G.
Yanenko, A. V.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2021 IEEE.The paper presents an automated control system for leakage currents monitoring in memory ICs based on National Instruments PXI platform. One of the two standard low-level boards used in our laboratory has been modified with an intermediate board to measure the leakage currents. The ability to break the monitored lines was implemented using relays on the intermediate board. Also, lines were added for relay control, and connectors were added for measuring leakage currents and memory access time. After successful testing, a replacement for the second lower-level board was developed and manufactured. A complete list of used equipment is presented, the advantages of using the NI PXI-4141 source measurement unit and possible variants for its replacement were described. The software and front control panel of the automated system were presented. The process of monitoring the leakage current and the specifics of its measurement were described. The features of control and data lines commutation were described. After testing the automated system for the correct commutation, it was used to monitor leakage currents during TID tests. The experimental results of monitoring the leakage current along 7 lines are presented (CE, WE, OE, DQ0, DQ7, A0, A7). The test results, possible options for equipment and a block diagram of the automated system are presented.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Leakage Currents Automated Monitoring System for Memory ICs under Dose Exposure / Gracheva, A.A. [et al.] // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications. - 2021. - 10.1109/SIBCON50419.2021.9438909
URI
https://www.doi.org/10.1109/SIBCON50419.2021.9438909
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85107682865&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000680842100059
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/24201
Коллекции
Публикации