Персона: Шилов, Валентин Александрович
Загружается...
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Институт лазерных и плазменных технологий
Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.
Статус
Фамилия
Шилов
Имя
Валентин Александрович
Имя
5 results
Результаты поиска
Теперь показываю 1 - 5 из 5
- ПубликацияОткрытый доступВлияние квантоворазмерных эффектов наночастиц тантала в тонкопленочных структурах на основе диодов Шоттки на увеличение фотоотклика в ИК диапазоне(2024) Балахнёв, К. М.; Бортко, Д. В.; Шилов, В. А.; Васильев, О. С.; Борисюк, П. В.; Лебединский, Ю. Ю.; Борисюк, Петр Викторович; Бортко, Диана Владимировна; Лебединский, Юрий Юрьевич; Васильев, Олег Станиславович; Балахнёв, Кирилл Максимович; Шилов, Валентин АлександровичРассмотрено улучшение чувствительности фотодетекторов Шоттки на основе перехода Ag/n-Si за счет добавления нанокластерного тонкопленочного покрытия Ta. Представлена методика создания таких фотодетекторов, включая изготовление покрытий и оценку их влияния на фотовольтаические характеристики устройств. Исследование показало, что введение слоя нанокластерного покрытия Ta привело к увеличению чувствительности фотодетекторов Шоттки на 29% по сравнению с устройствами без такого покрытия. Данное улучшение обусловлено оптимизацией характеристик барьера Шоттки, что подтверждено анализом отклика исследуемых устройств на тепловое излучение.
- ПубликацияОткрытый доступЭволюция электронных свойств нанокластеров тантала и оксидов в окрестности фазового перехода в непроводящее состояние(2024) Шилов, В. А.; Бортко, Д. В.; Балахнёв, К. М.; Борисюк, П. В.; Васильев, О. С.; Васильев, Олег Станиславович; Бортко, Диана Владимировна; Шилов, Валентин Александрович; Борисюк, Петр Викторович; Балахнёв, Кирилл МаксимовичПолучены core-shell образцы тонких плёнок нанокластеров тантала и оксидов тантала на кремнии. По результатам рентгеновского фотоэлектронного спектроскопического анализа определён химический состав нанокластеров Ta/TaO2. По характеру угловых зависимостей соотношений пиков дублета Ta4f и кислорода была установлена однородность состава тонкой нанокластерной плёнки. Для нанокластеров металлического тантала диаметром менее 5 нм наблюдался эффект размерного сдвига энергии связи и была установлена его зависимость от диаметра нанокластеров.
- ПубликацияОткрытый доступSize Dependence of the Band Gap of Core–Shell Tantalum and Tantalum Oxide (V) Nanoclusters(2025) Shilov, V. A.; Borisyuk, P. V.; Bortko, D. V.; Lebedinskii, Y. Y.; Vasilyev,O. S.; Шилов, Валентин Александрович; Борисюк, Петр Викторович; Бортко, Диана Владимировна; Лебединский, Юрий Юрьевич; Васильев, Олег Станиславович
- ПубликацияОткрытый доступПРОПУСКАНИЕ ИК-ИЗЛУЧЕНИЯ ТОНКИМИ НАНОКЛАСТЕРНЫМИ ПЛЁНКАМИ ИЗ НАНОЧАСТИЦ ТАНТАЛА(НИЯУ МИФИ, 2025) БОРТКО, Д. В.; БОРИСЮК, П. В.; ВАСИЛЬЕВ, О. С.; ШИЛОВ, В. А.; Васильев, Олег Станиславович; Борисюк, Петр Викторович; Шилов, Валентин Александрович; Бортко, Диана ВладимировнаПроведены эксперименты по измерению пропускания излучения широкого ИК диапазона тонких плёнок (от 26 до 48 нм) из наночастиц тантала различного размера (от 1.5 до 7.5 нм), напылённых на кремниевую подложку методом магнетронного распыления мишени с последующим захоронением наночастиц под тонким слоем CaF2. Измерения проводились с помощью двух спектрометров, общий рабочий диапазон которых составляет от 500 до 2600 нм. Получены спектральные коэффициенты пропускания нанокластерных плёнок в диапазоне от 1000 до 2500 нм для разных размеров кластеров тантала.
- ПубликацияОткрытый доступЗАВИСИМОСТЬ ШИРИНЫ ЗАПРЕЩЕННОЙ ЗОНЫ НАНОКЛАСТЕРОВ ОКСИДА ТАНТАЛА (V) И CORE-SHELL НАНОКЛАСТЕРОВ ТАНТАЛА/ОКСИДОВ ТАНТАЛА ОТ РАЗМЕРА(НИЯУ МИФИ, 2025) ШИЛОВ, В. А.; БОРТКО, Д. В.; БОРИСЮК, П. В.; ВАСИЛЬЕВ, О. С.; Васильев, Олег Станиславович; Борисюк, Петр Викторович; Бортко, Диана Владимировна; Шилов, Валентин АлександровичВ данной работе были получены образцы нанокластеров оксида тантала (V) и core-shell нанокластеров Ta/TaO2. По результатам анализа cпектров характеристических потерь энергии электронами (СХПЭЭ, REELS) восстановлена зависимость ширины запрещённой зоны от размера нанокластеров.