Персона:
Лоскутов, Илья Олегович

Profile Picture
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Статус
Фамилия
Лоскутов
Имя
Илья Олегович
Имя

Фильтры

2021 - 20232
11
2
Сброс фильтров

Настройки

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 2 из 2
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Открытый доступ
    ВЛИЯНИЕ ОПЕРАЦИОННОЙ СИСТЕМЫ НА РАДИАЦИОННУЮ СТОЙКОСТЬ СЛОЖНО-ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ СБИС
    (НИЯУ МИФИ, 2023) Роговая, М. А.; Костюченко, Д. С.; Лоскутов, И. О.; Уланова, А. В.; Костюченко, Денис Сергеевич; Лоскутов, Илья Олегович
    В статье проведен сравнительный анализ уровней радиационной стойкости сложно-функциональных СБИС при применении операционной системы (ОС) для разработки программного обеспечения по сравнению с традиционным подходом на основе суперцикла. Представлены применяемые ОС и объекты исследований. Описаны особенности программного кода для проведения тестов функционального контроля при использовании и отсутствии ОС. Представлены алгоритмы проведения экспериментов при исследованиях на дозовые эффекты и эффекты мощности дозы. Проведены сравнения уровней радиационной стойкости к воздействию ионизирующих излучений (ИИ) по дозовым эффектам и эффектам мощности дозы при наличии и отсутствии ОС. Полученные результаты исследований к воздействию ИИ по дозовым эффектам демонстрируют, что наличие ОС может изменять уровень радиационной стойкости до ~30% как в большую, так и в меньшую сторону по сравнению с традиционным случаем при отсутствии ОС. По результатам исследований по эффектам мощности дозы сделан вывод, что применение ОС может уменьшить уровень бессбойной работы (УБР) на 43% по сравнению с УБР при отсутствии ОС. Анализ полученных результатов показывает, что на УБР влияет и тип ОС. Предложены возможные объяснения имеющихся различий в уровнях радиационной стойкости. Определены направления дальнейших исследований.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Investigation of Operating System Influence on Single Event Functional Interrupts Using Fault Injection and Hardware Error Detection in ARM Microcontroller
    (2021) Loskutov, I. O.; Kravchenko, N. D.; Marfin, V. A.; Nekrasov, P. V.; Bobrovsky, D. V.; Smolin, A. A.; Yanenko, A. V.; Лоскутов, Илья Олегович; Кравченко, Николай Дмитриевич; Некрасов, Павел Владимирович; Бобровский, Дмитрий Владимирович; Яненко, Андрей Викторович
    © 2021 IEEE.the paper presents a broad investigation of single event effects in ARM microcontroller (MCU) under heavy ion irradiation. Experimental details are presented: device under the test and test setup. The stages of experiments are described: radiation testing using heavy ion accelerator, laser source irradiation and single event functional interrupts simulation campaign. The algorithm of operation of the program injector for conducting campaigns on simulating SEFI is presented. The influence of a real-time operating system on cross-section of SEFI was evaluated. SEFI cross-sections obtained with and without the operating system were compared. A method using fault injection in program and data memory and hardware detection of functional interrupts was tested. The results of SEFI simulation and calculation by engineering model were compared with experimental results. The results obtained differ from each other. Possible explanations of the proposed differences and the correction of the model are proposed. Directions for further research are outlined.