Publication:
Investigation of Operating System Influence on Single Event Functional Interrupts Using Fault Injection and Hardware Error Detection in ARM Microcontroller

Дата
2021
Авторы
Loskutov, I. O.
Kravchenko, N. D.
Marfin, V. A.
Nekrasov, P. V.
Bobrovsky, D. V.
Smolin, A. A.
Yanenko, A. V.
Кравченко, Николай Дмитриевич
Показать ещё 2
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2021 IEEE.the paper presents a broad investigation of single event effects in ARM microcontroller (MCU) under heavy ion irradiation. Experimental details are presented: device under the test and test setup. The stages of experiments are described: radiation testing using heavy ion accelerator, laser source irradiation and single event functional interrupts simulation campaign. The algorithm of operation of the program injector for conducting campaigns on simulating SEFI is presented. The influence of a real-time operating system on cross-section of SEFI was evaluated. SEFI cross-sections obtained with and without the operating system were compared. A method using fault injection in program and data memory and hardware detection of functional interrupts was tested. The results of SEFI simulation and calculation by engineering model were compared with experimental results. The results obtained differ from each other. Possible explanations of the proposed differences and the correction of the model are proposed. Directions for further research are outlined.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Investigation of Operating System Influence on Single Event Functional Interrupts Using Fault Injection and Hardware Error Detection in ARM Microcontroller / Loskutov, I.O. [et al.] // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications. - 2021. - 10.1109/SIBCON50419.2021.9438916
URI
https://www.doi.org/10.1109/SIBCON50419.2021.9438916
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85107679686&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000680842100065
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/24203
Коллекции
Публикации