Publication:
Long-term radiation effects in GaAs microwave devices exposed to pulsed ionizing radiation

Файлы
W2990600985.pdf(1.42 MB)
Дата
2019
Авторы
Gromov, D.
Elesin, V.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
The investigation results of the GaAs microwave devices characteristics under pulse irradiation are presented. The study covers the field effect transistor with Schottky barrier, pseudomorphic high-electron mobility transistors and resonant tunnelling diodes implemented in GaAs technology processes. It has been demonstrated that GaAs MESFET, pHEMT and RTDs may show the long-term parameter recovery undo pulsed ionizing exposure.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Gromov, D. Long-term radiation effects in GaAs microwave devices exposed to pulsed ionizing radiation / Gromov, D, Elesin, V // 29TH INTERNATIONAL CRIMEAN CONFERENCE: MICROWAVE and TELECOMMUNICATION TECHNOLOGY (CRIMICO2019). - 2019. - 30. - 10.1051/itmconf/20193010005
URI
https://www.doi.org/10.1051/itmconf/20193010005
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000568227400142
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/19561
Коллекции
Публикации