Publication:
Развитие методов лазерного моделирования эффектов в полупроводниковых структурах электронной компонентной базы при предельных уровнях импульсного ионизирующего воздействия

Файлы
Egorov_Razvitie_metodov_lazernogo_modelirovaniya_effektov_v_poluprovodnikovykh_2015.pdf(782.89 KB)
Дата
2015
Авторы
Егоров, А. Н.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт лазерных и плазменных технологий
Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
автореф. дис...кандидата техн. наук: 05.13.05
Ключевые слова
Автор МИФИ , Лазерные излучения , 05.13.05 - элементы и устройства вычислительной техники и систем управления
Цитирование
Егоров, А. Н. Развитие методов лазерного моделирования эффектов в полупроводниковых структурах электронной компонентной базы при предельных уровнях импульсного ионизирующего воздействия : автореф. дис...кандидата техн. наук: 05.13.05 / А. Н. Егоров ; рук. работы А. Ю. Никифоров ; [Место защиты: Нац. исслед. ядерный ун-т "МИФИ"]. - Москва : НИЯУ МИФИ, 2015. - 27 с.
URI
https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/12779
 https://lib-repository.mephi.ru/abstracts_of_dissertations_mephi/Egorov_Razvitie_metodov_lazernogo_modelirovaniya_effektov_v_poluprovodnikovykh_2015.pdf
Коллекции
Авторефераты диссертаций