Publication:
Experimental Estimation of Intercorrelation Between Radiation Effects and Semiconductor Detectors Measuring Characteristics Used for Static Radiation Detection of Nuclear Reactors

Дата
2025
Авторы
Barmakov, Y. N.
Butin, V. I.
Butin, I. V.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт физико-техничеcких интеллектуальных систем
Институт физико-технических интеллектуальных систем впервые в стране обеспечивает комплексную подготовку специалистов по созданию киберфизических устройств и систем самого различного назначения – основного вида технических устройств середины 21 века. ИФТИС реализует «дуальную» модель образования, в рамках которой направляет студентов на стажировку и выпускников для трудоустройства на передовые предприятия, занятые созданием инновационных киберфизических продуктов, в первую очередь, на предприятия ГК «Росатом». Основным индустриальным партнером ИФТИС является ведущее предприятие ГК «Росатом» — ФГУП «ВНИИА им. Н.Л. Духова».
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Barmakov, Y. N. Experimental Estimation of Intercorrelation Between Radiation Effects and Semiconductor Detectors Measuring Characteristics Used for Static Radiation Detection of Nuclear Reactors / Barmakov, Y. N., Butin, V. I., Butin, I. V. // International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. - 2025. - P. 50-53. - 10.1109/EDM65517.2025.11096672
URI
https://www.doi.org/10.1109/EDM65517.2025.11096672
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-105014156755&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/38610
Коллекции
Публикации