Publication:
Анализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии

Файлы
1987_zuev_vv_analiz_svoistv_poluprovodnikov.pdf(5.44 MB)
Дата
1987
Авторы
Зуев, В. В.
Петровский, А. Н.
Сальник, А. О.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
Ключевые слова
Препринт , Свойства полупроводников , Объемная фотодефлекционная спектроскопия , Автор МИФИ
Цитирование
Зуев, В. В. Анализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии : препринт 046-87 / В. В. Зуев, А. Н. Петровский, А. О. Сальник. - Москва : МИФИ, 1987. - 22 с.
URI
https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/39148
Коллекции
Препринты