Publication:
Анализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии

Простая страница элемента
dc.contributor.authorЗуев, В. В.
dc.contributor.authorПетровский, А. Н.
dc.contributor.authorСальник, А. О.
dc.contributor.authorПетровский, Анатолий Николаевич
dc.date.accessioned2025-10-07T14:25:13Z
dc.date.available2025-10-07T14:25:13Z
dc.date.issued1987
dc.identifier.citationЗуев, В. В. Анализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии : препринт 046-87 / В. В. Зуев, А. Н. Петровский, А. О. Сальник. - Москва : МИФИ, 1987. - 22 с.
dc.identifier.urihttps://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/39148
dc.languageruru
dc.subjectПрепринт
dc.subjectСвойства полупроводников
dc.subjectОбъемная фотодефлекционная спектроскопия
dc.subjectАвтор МИФИ
dc.titleАнализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии
dc.typeПрепринт
dspace.entity.typePublication
relation.isAuthorOfPublicationf83559c0-0767-4158-9ac3-c7de364a3e21
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscoveryf83559c0-0767-4158-9ac3-c7de364a3e21
Файлы
Original bundle
Теперь показываю 1 - 1 из 1
Уменьшенное изображение
Name:
1987_zuev_vv_analiz_svoistv_poluprovodnikov.pdf
Size:
5.44 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download
Коллекции
Препринты