Publication:
Study of terahertz reflection spectra of optically thin RDX samples by terahertz imaging with spectral resolution

Дата
2023
Авторы
Plekhanov, A. A.
Akmalov, A. E.
Kotkovskii, G. E.
Kozlovskii, K. I.
Kuzishchin, Y. A.
Martynov, I. L.
Maximov, E. M.
Osipov, E. V.
Chistyakov, A. A.
Показать ещё 8
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Study of terahertz reflection spectra of optically thin RDX samples by terahertz imaging with spectral resolution / Plekhanov, A. A. [et al.] // Optical Engineering. - 2023. - 62. - № 3. - 10.1117/1.OE.62.3.034109
URI
https://www.doi.org/10.1117/1.OE.62.3.034109
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85151791917&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000967533000030
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/30075
Коллекции
Публикации