Publication:
Application of 2D Walsh-Hadamard transform in SRAM upset bitmaps processing

Дата
2024
Авторы
Pilipenko, A. S.
Zubkov, L. S.
Tikhonov, M. I.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
Ключевые слова
Bitmap , Upset , IC Reverse Engineering , Integrated Circuits , Time-Resolved Imaging , Embedded Cores , Single event upset
Цитирование
Pilipenko, A. S. Application of 2D Walsh-Hadamard transform in SRAM upset bitmaps processing / Pilipenko, A.S., Zubkov, L.S., Tikhonov, M.I. // Microelectronics Reliability. - 2024. - 157. - 10.1016/j.microrel.2024.115398
URI
https://www.doi.org/10.1016/j.microrel.2024.115398
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85190752954&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/25949
Коллекции
Публикации