Publication:
Методы и аппаратно-программные средства функционального тестирования СБИС микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний на дозовые воздействия

Простая страница элемента
dc.contributor.advisorШагурин, И. И.
dc.contributor.authorЛебедев, А. В.
dc.date.accessioned2024-08-13T08:56:22Z
dc.date.available2024-08-13T08:56:22Z
dc.date.issued2009
dc.descriptionавтореф. дис... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления)
dc.identifier.citationЛебедев, А. В. Методы и аппаратно-программные средства функционального тестирования СБИС микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний на дозовые воздействия : автореф. дис... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления) / А. В. Лебедев ; рук. работы И. И. Шагурин. - Москва : МИФИ, 2009. - 32 с.
dc.identifier.urihttps://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/13070
dc.identifier.urihttps://lib-repository.mephi.ru/abstracts_of_dissertations_mephi/Lebedev_Metody_and_hardware-software_2009.pdf
dc.languagerusru
dc.publisherМИФИ
dc.relation.ispartof32 c.
dc.subjectАвтор МИФИ
dc.subjectСБИС
dc.subjectСверхбольшие интегральные схемы
dc.subjectМикроконтроллеры
dc.subjectВлияние излучения на вещество
dc.subject05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления
dc.titleМетоды и аппаратно-программные средства функционального тестирования СБИС микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний на дозовые воздействия
dc.typeАвтореферат диссертации канд. техн. наук
dspace.entity.typePublication
Файлы
Original bundle
Теперь показываю 1 - 1 из 1
Уменьшенное изображение
Name:
Lebedev_Metody_and_hardware-software_2009.pdf
Size:
492.81 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download
Коллекции
Авторефераты диссертаций