Publication: Методы и аппаратно-программные средства функционального тестирования СБИС микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний на дозовые воздействия
Дата
2009
Авторы
Лебедев, А. В.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
МИФИ
Аннотация
Описание
автореф. дис... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления)
Ключевые слова
Автор МИФИ , СБИС , Сверхбольшие интегральные схемы , Микроконтроллеры , Влияние излучения на вещество , 05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления
Цитирование
Лебедев, А. В. Методы и аппаратно-программные средства функционального тестирования СБИС микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний на дозовые воздействия : автореф. дис... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления) / А. В. Лебедев ; рук. работы И. И. Шагурин. - Москва : МИФИ, 2009. - 32 с.