Publication:
Physics-Based Modeling of the Single Event Upset Critical Charge in Digital Electronics

Дата
2025
Авторы
Mateiko, A. A.
Rodin, A. S.
Makarova, I. A.
Abramova, E. N.
Zebrev, G. I.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Physics-Based Modeling of the Single Event Upset Critical Charge in Digital Electronics / Mateiko, A.A. [et al.] // Russian Microelectronics. - 2025. - 54. - № 8. - P. 948-952. - 10.1134/S1063739725601468
URI
https://www.doi.org/10.1134/S1063739725601468
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-105033948635&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/42740
Коллекции
Публикации