Publication:
Simultaneous Parametric and Functional Testing of Digital VLSI during Radiation Experiments

Дата
2021
Авторы
Arabyan, S.
Shuvalov, V.
Kessarinskiy, L.
Shirin, A.
Boychenko, D.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт интеллектуальных кибернетических систем
Цель ИИКС и стратегия развития - это подготовка кадров, способных противостоять современным угрозам и вызовам, обладающих знаниями и компетенциями в области кибернетики, информационной и финансовой безопасности для решения задач разработки базового программного обеспечения, повышения защищенности критически важных информационных систем и противодействия отмыванию денег, полученных преступным путем, и финансированию терроризма.
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2021 IEEE.In the light of the improvements of integration technologies and testing instruments, an automated testing system based on state-of-the-art technical solutions for automatic test equipment is introduced. The use of PXIe-6570 in the development process of automatic test equipment is presented. Some aspects of importance when migrating to PXIe-6570 are given. Efficiency of newly developed features of PXIe-6570 is demonstrated on the introduced automated testing system. The advantage of digital pattern instruments over digital waveform instruments is presented in the comparison of the essential features of those instruments. The architecture of the project developed in Digital Pattern Editor is given. The application for conducting parametric measurements of the microcircuitry is described. It is shown that digital pattern instruments enhance the facilities of development of automated testing systems with the features of modularity, which allows to make small changes in the modules, without affecting the whole project and to customize given projects to conduct tests on various microcircuits.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Simultaneous Parametric and Functional Testing of Digital VLSI during Radiation Experiments / Arabyan, S. [et al.] // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications. - 2021. - 10.1109/SIBCON50419.2021.9438892
URI
https://www.doi.org/10.1109/SIBCON50419.2021.9438892
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85107698318&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000680842100042
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/24200
Коллекции
Публикации