Publication: Методы и средства повышения устойчивости к многократным сбоям ячеек статической памяти и комбинационных элементов металл-оксид-полупроводниковых микросхем с проектными нормами уровня 65 НМ
Дата
2022
Авторы
Балбеков, А. О.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН
Аннотация
Описание
автореф. дис. ... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства вычислительной техники и систем управления)
Ключевые слова
Интегральные микросхемы , Моделирование , Сбоеустойчивость , 05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления
Цитирование
Балбеков, А. О. Методы и средства повышения устойчивости к многократным сбоям ячеек статической памяти и комбинационных элементов металл-оксид-полупроводниковых микросхем с проектными нормами уровня 65 НМ : автореф. дис. ... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства вычислительной техники и систем управления) / А.О. Балбеков; рук. работы:М.С. Горбунов ; ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН. - Москва : ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН, 2022. - 25 с.