Publication:
Automation of Pulse Electric Strength Test of Electronic Component Base

Дата
2019
Авторы
Dyatlov, N. S.
Epifantsev, K. A.
Skorobogatov, P. K.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019, Pleiades Publishing, Ltd.Abstract: During the pulse electric strength test of the electronic component base (ECB), the single pulsing electrical overstress (EOS) of increasing amplitude affects the tested specimen until a functional or parametric failure of the product appears. In order to reduce the test time and minimize operator intervention, a specialized test bench was designed to perform the test in automatic mode. To have the possibility to switch the specimen between a sensitive measuring instrument and a high-voltage pulse generator, a mechanical switching device was developed, which also operates as a connecting link between test bench components. After putting the test bench into operation, the time of preparation and the test significantly decreases. Furthermore, it became possible to test the electronic component base on the multiple actions of voltage pulses.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Dyatlov, N. S. Automation of Pulse Electric Strength Test of Electronic Component Base / Dyatlov, N.S., Epifantsev, K.A., Skorobogatov, P.K. // Russian Microelectronics. - 2019. - 48. - № 5. - P. 340-345. - 10.1134/S1063739719050032
URI
https://www.doi.org/10.1134/S1063739719050032
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85073195661&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/18827
Коллекции
Публикации